[发明专利]一种用于超声探头标定的校准装置有效
申请号: | 201610165622.9 | 申请日: | 2016-03-22 |
公开(公告)号: | CN105769244B | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
发明(设计)人: | 郭晓杰;林艳萍;曾祥森;王会祥;汪方 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | A61B8/00 | 分类号: | A61B8/00;A61B34/20 |
代理公司: | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人: | 郑立 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于超声探头标定的校准装置,包括光学定位追踪设备、超声设备、超声标定校准块、基座、第一光学定位参考架、第二光学定位参考架和装有标定系统软件的计算机;其中,光学定位追踪设备用于同时捕捉第一光学定位参考架和第二光学定位参考架的位置信息并将位置信息传输到计算机中;超声设备用于通过使用超声探头扫描超声标定校准块并生成超声图像;光学定位追踪设备安装在支架上,并且光学定位追踪设备通过信号线连接到计算机;超声设备通过信号线连接到计算机;超声标定校准块采用有机玻璃制作,超声标定校准块的底部共有5个平面,超声标定校准块的顶部设有5个圆柱孔。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 超声 探头 标定 校准 装置 | ||
【主权项】:
一种用于超声探头标定的校准装置,其特征在于,包括光学定位追踪设备、超声设备、超声标定校准块、基座、第一光学定位参考架、第二光学定位参考架和装有标定系统软件的计算机;其中,所述光学定位追踪设备用于同时捕捉第一光学定位参考架和第二光学定位参考架的位置信息并将所述位置信息传输到计算机中;所述超声设备包括超声探头,所述超声设备用于使用所述超声探头扫描所述超声标定校准块并生成超声图像;所述光学定位追踪设备安装在支架上,并且所述光学定位追踪设备通过信号线连接到所述计算机;所述超声设备通过信号线连接到所述计算机;所述第一光学定位参考架通过刚性连接固定在所述超声探头上;所述第二光学定位参考架通过刚性连接固定在所述基座上;固定在所述基座上的所述超声标定校准块采用有机玻璃制作,所述超声标定校准块的底部共有5个平面,其中4个垂直方向的平面相互平行,1个水平方向的中间平面与所述超声标定校准块的2个侧平面相交,所述超声标定校准块的顶部设有5个圆柱孔。
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