[发明专利]基于圆迹SAR的二面角反射器最佳成像方位角确定方法在审

专利信息
申请号: 201610166547.8 申请日: 2016-03-22
公开(公告)号: CN105842668A 公开(公告)日: 2016-08-10
发明(设计)人: 洪文;王建峰;林赟;郑保文;鲍慊;郭小洋 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G01S13/90
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种基于圆迹SAR的二面角反射器最佳方位成像角确定方法。本发明中,首先建立二面角反射器的散射模型,并利用RCS预估方法实现对散射模型的RCS预估,分析模型的RCS幅度和相位随着方位角的变化;根据得到的散射模型RCS生成圆迹SAR模式下的非各向同性雷达回波数据,用BP成像算法对模型成像,并与各向同性理想点目标的成像质量进行比较,最终分析确定二面角反射器的最佳成像方位角度。本发明可以实现在不同的圆迹SAR系统参数下进行对不同典型目标的最佳成像方位角度的选择,能够避免目标的SAR图像信噪比恶化,保证散射信息不缺失,同时保持SAR图像分辨率不降低,具有较强的实用价值。
搜索关键词: 基于 sar 二面角 反射 最佳 成像 方位角 确定 方法
【主权项】:
一种基于圆迹SAR的二面角反射器最佳方位成像角确定方法,其特征在于,包括:步骤A:利用二面角反射器参数及雷达系统参数建立二面角反射器散射模型;步骤B:仿真得到二面角反射器散射模型的RCS随方位角度的幅度变化曲线Mag(φ)和相位变化曲线Pha(φ);步骤D:利用雷达系统参数以及幅度变化曲线Mag(φ)、相位变化曲线Pha(φ),生成圆迹SAR模式下的非各向同性雷达回波数据并进行成像,得到非各向同性SAR成像结果Ianiso;以及进行相同雷达参数下各向同性的理想点目标圆迹SAR成像,得到各向同性SAR成像结果Iiso;步骤E:得到非各向同性SAR成像结果Ianiso方位向分辨率(IRW)曲线;步骤F:计算非各向同性SAR成像结果Ianiso的信噪比SNRaniso与各向同性SAR成像结果Iiso的信噪比SNRiso的比率SNRratio;步骤G:利用非各向同性SAR成像结果Ianiso的信噪比SNRaniso与各向同性SAR成像结果Iiso的信噪比SNRiso的比率SNRratio;以及非各向同性SAR成像结果Ianiso和各向同性SAR成像结果Iiso的方位向分辨率(IRW)比较曲线图,得到方位相干累积角度;以及步骤H:对该方位相干累积角度进行验证,验证通过的方位相干累积角度作为二面角反射器最佳方位成像角。
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