[发明专利]光掩模空白片、光掩模的制造方法及显示装置的制造方法有效
申请号: | 201610173066.X | 申请日: | 2016-03-24 |
公开(公告)号: | CN106019817B | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 牛田正男;坪井诚治;安森顺一;阿山兼士 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社;HOYA电子马来西亚有限公司 |
主分类号: | G03F1/50 | 分类号: | G03F1/50 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张思宝 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种光掩模空白片、光掩模的制造方法及显示装置的制造方法,上述光掩模空白片成为图案截面的形状近似垂直而适合转印特性和微细化、且即使以高曝光量(高剂量)进行转印也可使转印缺陷少的光掩模,上述光掩模的制造方法具有上述特性,上述显示装置的制造方法以高成品率制造高精细显示装置。上述光掩模空白片在透明基板上层叠有遮光层和反射降低层,遮光层由多层层叠膜以蚀刻速度从遮光层表面向透明基板阶段性或连续性地加快的方式构成,该遮光层中的形成于基板侧的下层部在436nm波长下的光学浓度为1.0以上。此外,上述光掩模的制造方法使用该光掩模空白片制造光掩模。并且,上述显示装置的制造方法使用该光掩模制造显示装置。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 空白 制造 方法 显示装置 | ||
【主权项】:
一种光掩模空白片,其具有由对曝光光透明的材料构成的透明基板和由不透明的材料构成的遮光膜,其特征在于,所述遮光膜从所述透明基板侧起依次形成有遮光层和反射降低层,所述遮光层由多层层叠膜以蚀刻速度从该遮光层表面向所述透明基板阶段性或连续性地加快的方式构成,该遮光层中的形成于基板侧的下层部在436nm波长下的光学浓度为1.0以上。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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