[发明专利]一种硅基GaAs单晶薄膜及其制备方法有效
申请号: | 201610173297.0 | 申请日: | 2016-03-24 |
公开(公告)号: | CN105624792B | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 刘广政;杨冠卿;于天;徐波 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | C30B29/42 | 分类号: | C30B29/42;C30B29/64;C30B25/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种硅基GaAs单晶薄膜及其制备方法,方法首先对硅衬底进行脱氧及退火,然后分为四个温度在硅衬底上依次形成GaAs低温成核层、GaAs中温缓冲层、GaAs中温缓冲层及高温GaAs外延层,最后降温得到硅基GaAs薄膜。本发明制得的硅基GaAs薄膜具有表面光亮、起伏小及缺陷少的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 gaas 薄膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种硅基GaAs单晶薄膜的制备方法,其特征在于,包括:S1,对一硅衬底进行脱氧处理及退火处理;S2,降低所述硅衬底的温度至第一温度250℃~350℃,然后,采用分子束外延法在所述硅衬底表面生长一层GaAs,以形成第一GaAs层;S3,升高所述硅衬底的温度至第二温度350℃~450℃,然后,采用分子束外延法在所述第一GaAs层上生长一层GaAs,以形成第二GaAs层;S4,升高所述硅衬底的温度至第三温度450℃~550℃,然后,采用分子束外延法在所述第二GaAs层上生长一层GaAs,以形成第三GaAs层;S5,升高所述硅衬底的温度至第四温度550℃~620℃,然后,采用分子束外延法在所述第三GaAs层上生长一层GaAs,以形成第四GaAs层;S6,降低所述硅衬底的温度至常温,得到硅基GaAs单晶薄膜。
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