[发明专利]基于分形理论的绝缘材料闪络后表面微观形貌分析方法在审
| 申请号： | 201610178834.0 | 申请日： | 2016-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN105825527A | 公开（公告）日： | 2016-08-03 |
| 发明（设计）人： | 谢庆;黄河;陆路;胡志亮;王涛;林浩凡;付可欣;律方成 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学（保定） |
| 主分类号： | G06T7/40 | 分类号： | G06T7/40 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 071000 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于分形理论的绝缘材料闪络后表面微观形貌分析方法，包括以下步骤：步骤1：对绝缘材料进行闪络放电实验，获取所述绝缘材料的AFM表面形貌图；步骤2：将所述绝缘材料的AFM表面形貌图转换为灰度图像；所述灰度图像的尺寸为m×m；步骤3：用分形法或多重分形法对所述灰度图像进行处理，获取分形参数；步骤4：根据分形参数定量分析所述绝缘材料闪络后的表面微观形貌。本发明将灰度法、分形理论及AFM微观观测手段结合来分析绝缘材料闪络后的表面形貌，三者的优点得到充分发挥，分析结果更加有效、可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 理论 绝缘材料 闪络后 表面 微观 形貌 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种基于分形理论的绝缘材料闪络后表面微观形貌分析方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：对绝缘材料进行闪络放电实验，获取所述绝缘材料的AFM表面形貌图；步骤2：将所述绝缘材料的AFM表面形貌图转换为灰度图像；所述灰度图像的尺寸为m×m；步骤3：用分形法或多重分形法对所述灰度图像进行处理，获取分形参数；步骤4：根据分形参数定量分析所述绝缘材料的表面微观形貌。
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