[发明专利]晶体硅刻槽埋栅电池的钝化接触电极结构及其制备方法有效
申请号: | 201610180452.1 | 申请日: | 2016-03-25 |
公开(公告)号: | CN105633218B | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 肖博 | 申请(专利权)人: | 无锡尚德太阳能电力有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0224 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)32104 | 代理人: | 曹祖良,刘海 |
地址: | 214028 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种晶体硅刻槽埋栅电池的钝化接触电极结构及其制备方法,其特征是包括硅衬底,在硅衬底表面覆盖第一钝化层和第二钝化层,在硅衬底上设有槽体,槽体由第一钝化层的表面延伸至硅衬底内部,第二钝化层覆盖第一钝化层、槽体的侧壁和底部,在槽体内嵌设有电极。所述制备方法包括以下步骤第一步,在硅衬底表面生长第一钝化层;第二步,使用激光在硅衬底上形成槽体,槽体由第一钝化层表面延伸至硅衬底内部;第三步,在第一钝化层表面生成第二钝化层,第二钝化层覆盖第一钝化层的表面以及槽体的侧壁和底部;第四步,在槽体中金属化形成电极,使电极嵌在硅衬底中。本发明钝化接触电极,防止金属扩散至硅衬底内形成复合中心,实现高效。 | ||
搜索关键词: | 晶体 硅刻槽埋栅 电池 钝化 接触 电极 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种晶体硅刻槽埋栅电池的钝化接触电极结构的制备方法,其特征是,包括以下步骤:第一步,在硅衬底(1)表面生长第一钝化层(2);第二步,使用激光开槽,在硅衬底(1)上形成槽体(3),槽体(3)由第一钝化层(2)表面延伸至硅衬底(1)内部;第三步,在第一钝化层(2)表面生成第二钝化层(4),第二钝化层(4)覆盖第一钝化层(2)的表面以及槽体(3)的侧壁和底部;第四步,在槽体(3)中金属化形成电极(5),使电极(5)嵌在硅衬底(1)中;所述电极(5)与槽体(3)由第二钝化层(4)隔开;所述第一钝化层(2)采用氮化硅薄膜;所述第一钝化层(2)的厚度为75nm;所述激光的波长为600~1200nm;所述第二钝化层(4)的厚度≤10nm;所述第二钝化层(4)采用ALD生长的氧化铝。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的