[发明专利]样本分析装置、样本分析方法及控制装置有效
| 申请号： | 201610180722.9 | 申请日： | 2016-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN106018400B | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 越村直人 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/82 | 分类号： | G01N21/82;G01N33/49 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 杨永波 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种样本分析装置，包括：制备部件，其混合样本和试剂，制备测定试样；测定部件，其用光照射测定试样，获取光学性时序数据；控制部件，其将测定部件获取的所述时序数据分成复数个区段数据，求出各个区段数据的第一回归线，选择与所述时序数据一致度最高的所述第一回归线，将所述测定部件获取的所述时序数据中与所选择的所述第一回归线一致的所述时序数据的区域设为分析对象区域，用所设定的分析对象区域内包含的时序数据求出第二回归线，用所述第二回归线进行分析。 | ||
| 搜索关键词： | 样本 分析 装置 方法 控制 | ||
【主权项】：
1.一种样本分析装置，包括：制备部件，其混合样本和试剂，制备测定试样；测定部件，其用光照射所述测定试样，获取光学性时序数据；控制部件，其将所述测定部件获取的所述时序数据分成复数个区段数据，求出各个区段数据的第一回归线，选择与所述时序数据一致度最高的所述第一回归线，将所述测定部件获取的所述时序数据中与所选择的所述第一回归线一致的所述时序数据的区域设为分析对象区域，用所设定的分析对象区域内包含的时序数据求出第二回归线，用所述第二回归线进行分析。
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