[发明专利]显示调质状态低合金铬钼钢奥氏体晶粒晶界腐蚀剂的浸蚀方法

摘要

本发明提供一种显示调质状态低合金铬钼钢奥氏体晶粒晶界腐蚀剂的浸蚀方法，该方法步骤为：腐蚀剂的制备；向盛放腐蚀剂的玻璃皿中放入脱脂棉，使脱脂棉吸附腐蚀剂；将磨光和抛光好的低合金铬钼钢试样，清洗干净吹干后浸入腐蚀剂中，其抛光面朝下放置在脱脂棉上，浸泡10‑15分钟，将试样取出用清水清洗干净，然后用无水乙醇清洗并吹干；在显微镜下对调质状态的低合金铬钼钢奥氏体晶粒度进行评级。有益效果是该方法腐蚀剂配制简便，无需水浴加热，仅需10‑15分钟即可适合应用于生产上大批量评定晶粒度级别。操作更加安全，更加便捷。

主权项

1.一种显示调质状态低合金铬钼钢奥氏体晶粒晶界腐蚀剂的浸蚀方法，其特征是：该方法按以下步骤进行：第一步，腐蚀剂的制备，所述腐蚀剂配比为：磺基水杨酸8‑15g，水100mL，0.1‑1mL质量百分比浓度4％硝酸酒精，0.2‑5mL洗洁精；首先配置质量百分比浓度为4％的硝酸酒精，然后按照所述腐蚀剂配比比例将8‑15g磺基水杨酸溶于100mL水中，搅拌均匀，并倒入玻璃皿中，再加入0.2‑5mL洗洁精和0.1‑1mL配置的硝酸酒精；第二步，向盛放腐蚀剂的玻璃皿中放入脱脂棉，使脱脂棉吸附腐蚀剂，将磨光和抛光好的低合金铬钼钢试样，清洗干净吹干后浸入腐蚀剂中，其抛光面朝下放置在脱脂棉上，浸泡10‑15分钟，将试样取出用清水清洗干净，然后用无水乙醇清洗并吹干；第三步，在显微镜下对调质状态的低合金铬钼钢奥氏体晶粒度根据标准GB/T6394‑2002《金属平均晶粒度测定方法》进行评级。