[发明专利]一种工件表面质量问题分析试切装置及分析方法有效

专利信息
申请号: 201610182297.7 申请日: 2016-03-28
公开(公告)号: CN105710723B 公开(公告)日: 2018-06-26
发明(设计)人: 张伟伟;宋智勇;夏远猛;乔永忠;李颖 申请(专利权)人: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
主分类号: B23Q17/00 分类号: B23Q17/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610092*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及机械加工领域,具体涉及一种工件表面质量问题分析试切装置及分析方法。包括底座,所述底座为矩形,底座上设置有X轴试件、Y轴试件、Z轴试件、A轴试件、B轴‑C轴试件和原点孔;所述X轴试件、Y轴试件和A轴试件均与底座的边缘平行;所述X轴试件设置于底座的边缘,Y轴试件和A轴试件分别设置于与X轴试件相邻的底座的边缘;所述Z轴试件为纵切面为梯形的凸起,且设置于底座的中部;所述原点孔设置于Z轴试件顶部平面的中部;所述B轴‑C轴试件为圆环状,设置于Z轴试件与X轴试件、Y轴试件和A轴试件之间。本发明通过各坐标轴的独立加工,将复杂的多轴同时加工产生的工件表面质量问题分解,实现故障原因的准确、快速定位。
搜索关键词: 试件 底座 工件表面 质量问题 原点 切装置 分析 机械加工领域 顶部平面 独立加工 故障原因 快速定位 孔设置 圆环状 纵切面 坐标轴 多轴 凸起 平行 分解 加工
【主权项】:
1.一种工件表面质量问题分析试切装置,其特征在于:包括底座,所述底座为矩形,底座上设置有X轴试件(1)、Y轴试件(2)、Z轴试件(3)、A轴试件(4)、B轴‑C轴试件(5)和原点孔(6);所述X轴试件(1)、Y轴试件(2)和A轴试件(4)均为长条状凸起,且均与底座的边缘平行;所述X轴试件(1)设置于底座的边缘,Y轴试件(2)和A轴试件(4)分别设置于与X轴试件(1)相邻的底座的边缘;所述Z轴试件(3)为纵切面为梯形的凸起,且设置于底座的中部;所述原点孔(6)为盲孔,设置于Z轴试件(3)顶部平面的中部;所述B轴‑C轴试件(5)为圆环状,设置于Z轴试件(3)与X轴试件(1)、Y轴试件(2)和A轴试件(4)之间。
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