[发明专利]一种基于重离子加速器的单粒子软错误防护设计验证方法

摘要

本发明一种基于重离子加速器的单粒子软错误防护设计验证方法，涉及一种基于加速器试验数据的系统单粒子防护效果验证的重离子和质子等效试验验证领域；包括：(1)采用基于LET值确定的地面加速器重离子试验；(2)分析质子静态翻转截面；(3)分析系统在任意工作模式下的敏感位因子；(4)分析系统在重离子辐照下的动态翻转截面；(5)分析系统在质子辐照下的动态翻转截面；本发明提供一种基于重离子加速器的单粒子软错误防护设计验证方法，该方法可用于单粒子防护效果验证，解决国内加速器时间紧张以及难以实现高能质子试验的问题。

主权项

1.一种基于重离子加速器的单粒子软错误防护设计验证方法，其特征在于：针对包含大规模逻辑器件的电路系统的单粒子软错误防护设计验证方法，包括以下步骤：步骤(一)、采用地面加速器重离子对逻辑器件进行辐照，通过基于LET确定重离子加速器试验方法，获取逻辑器件静态翻转截面平均值σion_static，以及静态翻转截面与重离子LET值的威布尔函数关系fWeibull；步骤(二)、利用步骤(一)获取的威布尔函数关系，采用基于重离子试验数据的逻辑器件质子翻转截面反演方法，分析得到逻辑器件在质子辐照下的静态翻转截面σproton_static；步骤(三)、获取包含大规模逻辑器件的电路系统在任意工作模式下的敏感位因子η；步骤(四)、计算系统在重离子辐照下的动态错误截面：σion_dynamic＝σion_static×η其中：σion_dynamic：逻辑器件在重离子辐照下的动态错误截面，单位为cm2/bit；σion_static：步骤(一)获得的逻辑器件在重离子辐照下的静态翻转截面平均值，单位为cm2/bit；η：步骤(三)获得的系统任意工作模式敏感位因子；步骤(五)、计算系统在质子辐照下的动态错误截面：σproton_dynamic＝σproton_static×η其中：σproton_dynamic：逻辑器件在质子辐照下的动态错误截面，单位为cm2/bit；σproton_static：步骤(二)获得的逻辑器件在质子辐照下的静态翻转截面，单位为cm2/bit；η：步骤(三)获得的系统任意工作模式敏感位因子。