[发明专利]三维地质表面模型中的插值数据处理方法在审
申请号: | 201610190583.8 | 申请日: | 2016-03-29 |
公开(公告)号: | CN105869210A | 公开(公告)日: | 2016-08-17 |
发明(设计)人: | 戴晓霞;唐培培;孙霖;王泽兵;苏健;翁文勇 | 申请(专利权)人: | 浙江大学城市学院 |
主分类号: | G06T17/05 | 分类号: | G06T17/05;G06T17/30 |
代理公司: | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人: | 张会娟 |
地址: | 310015 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本申请公开了一种三维地质表面模型中的插值数据处理方法,包括以下步骤:获取采样点集合;计算采样点集合中采样点的曲率;将采样点集合投影到水平面;在水平面生成用于覆盖采样点集合的水平面投影的控制点集合;根据采样点的曲率计算控制点集合中控制点的曲率;根据曲率密度转化模型计算控制点的插值密度;根据控制点的插值密度确定插值点集合;其中,插值点根据控制点的插值密度生成,并且用于对采样点进行补充,插值点根据控制点的插值密度生成,并且用于对采样点进行补充,从而可以提高生成的面片单元的质量,进而提高面片单元的规范性和精度,可以用于地质结构的量化研究。 | ||
搜索关键词: | 三维 地质 表面 模型 中的 数据处理 方法 | ||
【主权项】:
一种三维地质表面模型中的插值数据处理方法,其特征在于,包括以下步骤:获取采样点集合;计算采样点集合中采样点的曲率;将采样点集合投影到水平面;在水平面生成用于覆盖采样点集合的水平面投影的控制点集合;根据采样点的曲率计算控制点集合中控制点的曲率;根据曲率密度转化模型计算控制点的插值密度;根据控制点的插值密度确定插值点集合;其中,插值点根据控制点的插值密度生成,并且用于对采样点进行补充。
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