[发明专利]一种系统级单粒子效应影响表征参数的评价方法

摘要

本发明公开了一种系统级单粒子效应影响表征参数及评价方法：根据系统功能分析，建立以元器件为底事件的系统功能模型，结合元器件单粒子敏感性分析，建立系统单粒子效应影响功能模型；基于单粒子效应试验数据，计算分析敏感元器件的单粒子事件率，采用故障注入、重离子辐照试验法或系统历史数据分析方法确定系统各层次间单粒子效应影响传递因子；基于单粒子事件的叠加性原理，计算系统单粒子事件率；结合单粒子效应影响中断时间，计算系统单粒子效应危害度和可用性。本发明采用定量的方法表征单粒子效应对系统的影响，并评价系统单粒子效应的影响后果，该方法可用于指导系统级单粒子效应风险的量化控制。

主权项

1.一种系统级单粒子效应影响表征参数的评价方法，其特征在于步骤如下：(1)根据待评价系统要实现的目的，进行功能分析，依据各个功能单元间的依赖与对应关系，自顶向下分解为若干个功能单元，对元器件单粒子敏感性分析，确定系统中对单粒子效应敏感的元器件，建立系统单粒子效应影响功能模型，所述系统单粒子效应影响功能模型为m层，m≥2，系统总功能为顶层功能单元，元器件为底层功能单元；(2)基于单粒子效应试验数据，结合选定的航天器轨道参数，计算步骤(1)所确定的对单粒子效应敏感的元器件在轨运行时质子或重离子引起的单粒子事件率；(3)自底向上确定系统单粒子效应影响功能模型中各下层功能单元与其直接上层功能单元之间的单粒子效应影响传递因子；(4)基于单粒子事件的叠加性原理，根据步骤(2)所得到的对单粒子效应敏感的元器件单粒子事件率和步骤(3)得到的各下层功能单元与其直接上层功能单元之间的单粒子效应影响传递因子，自底向上地计算各功能单元的单粒子事件率，顶层功能单元单粒子事件率为系统的单粒子事件率，用于表征系统单粒子效应影响；(5)结合单粒子效应影响中断时间，计算系统单粒子效应危害度和可用性，用于评价单粒子效应对系统带来的后果。