[发明专利]一种铁磁性金属材料抗氢致开裂性能的检测方法有效

专利信息
申请号: 201610194504.0 申请日: 2016-03-30
公开(公告)号: CN105891093B 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 陈学东;郭鹏举;孔韦海;刘燕;费勤楠;关卫和;范志超 申请(专利权)人: 合肥通用机械研究院有限公司;合肥通用机械研究院特种设备检验站有限公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00
代理公司: 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 代理人: 王挺
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及腐蚀环境下承压设备和管道的安全使用领域,具体是涉及一种铁磁性金属材料抗氢致开裂性能的检测方法。本发明检测方法包括按照试验标准GB/T 8650‑2006或NACE TM0284‑2011对试件进行抗氢致开裂性能(HIC)试验;对试验后的试件进行外观检查,检查有无氢鼓泡、表面裂纹等问题;选择无外观问题的所述试件进行磁记忆技术检测;通过磁信号是否存在异常及异常部位的个数来选取金相观察的部位。该方法为检测和评价试件抗氢致开裂性能提供了一种客观、准确、快速高效的方法,解决了现有技术中的不足。
搜索关键词: 一种 铁磁性 金属材料 抗氢致 开裂 性能 检测 方法
【主权项】:
1.一种铁磁性金属材料抗氢致开裂性能的检测方法,包括以下步骤:S1、按照试验标准GB/T 8650‑2006《管线钢和压力容器钢抗氢致开裂评定方法》或NACE TM0284‑2011Evaluation ofPipeline and Pressure Vessel Steels for Resistance to Hydrogen‑Induced Cracking的要求,在规定的溶液、温度和时间条件下,对试件进行HIC试验;S2、对试件进行外观检查,观察试件表面是否存在氢鼓泡和/或裂纹的缺陷;若存在表面缺陷,则进入步骤S3;若无表面缺陷,则进入步骤S4;S3、对于S2中试件表面存在表面缺陷的情况,按照相应产品技术要求或产品标准评定是否合格,若合格,则进入步骤S4;S4、对于S2中试件表面无表面缺陷的情况,按照GB/T 26641‑2011《无损检测磁记忆检测总则》,采用磁记忆检测仪检测HIC后的试件:选择试件轴向上相邻的四个检测面,逐个检测面进行检测并记录磁信号异常的部位;根据磁记忆检测结果进行分析,若无磁信号异常,则进入步骤S5;若有磁信号异常,则进入步骤S6;所述磁记忆检测仪检测所得磁参数包括磁场强度Hp(y),磁场梯度K,其中K=dHp(y)/dx,所述x为检测仪在所述检测面的连续位移,所述磁信号异常部位对应指磁场梯度K的峰值部位;S5、根据步骤S4的检测结果,无磁信号异常时,按照所述标准NACE TM0284‑2011或GB/T 8650‑2006标准指定检测面选取一处金相试样;随后进入步骤S3;S6、根据步骤S4的检测结果,存在磁信号异常,当磁信号异常部位不大于三处时,进入步骤S7;当磁信号异常部位大于三处时,进入步骤S8;随后进入步骤S3;S7、磁信号异常部位小于三处,磁信号异常部位取代S5中所述标准取样部位进行选取金相试样;S8、磁信号异常部位大于三处,取磁信号参数较大的前三处取金相试样。
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