[发明专利]用结构体数组处理和计算陶瓷釉SEM图像微相特征方法在审
申请号: | 201610196184.2 | 申请日: | 2016-03-31 |
公开(公告)号: | CN105894509A | 公开(公告)日: | 2016-08-24 |
发明(设计)人: | 王晓霞;王芬;姚斌;何立风 | 申请(专利权)人: | 陕西科技大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/40;G06T7/60 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 段俊涛 |
地址: | 710021 陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种用结构体数组处理和计算陶瓷釉SEM图像微相特征方法,包括:步骤一:选择读取清晰的SEM灰度值图像;步骤二:根据SEM灰度图像分相信息特征,对SEM图像从头开始,判断并选取灰度像素值变化小于10的连续区域,统计该区域像素总个数,并计算该区域的灰度像素均值,用结构数组a保存各区域灰度像素均值和像素个数;步骤三:对结构体数组a,按结构体数组a中成员像素个数进行排序;步骤四:编写程序,分别重新改写结构体数组a中灰度像素均值成员值,完成区域轮廓标记;步骤五:对标记过的SEM图像,判断并进行计算各种分相微球形状信息(圆形度,半径,球心等)和距离信息(两球心之距离);步骤六:并用此方法分析大量不同温度、呈色的SEM图像,找规律并试着建模。 | ||
搜索关键词: | 结构 数组 处理 计算 陶瓷 sem 图像 特征 方法 | ||
【主权项】:
一种用结构体数组处理和计算陶瓷釉SEM图像微相特征方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:根据实验样品及烧制温度变化,选择清晰的SEM灰度值图像,并在数据表中保存记录当下变化颜色和当时所处的环境温度;步骤二:根据SEM灰度图像分相信息特征,对SEM图像从头开始,判断并选取灰度像素值变化小于10的连续区域,计算各连续区域的灰度像素均值,并记下连续区域内的像素个数,用结构体数组a保存,每个结构体包含两个成员,一是区域灰度像素均值,二是区域像素总个数即成员值,用相同方法,完成SEM图像的区域统计和记录;步骤三:对结构体数组a,按结构体数组a中成员像素个数进行排序;步骤四:分别重新改写结构体数组a中灰度像素均值和成员值,完成区域轮廓标记,实现方法:结构体数组a中成员像素个数一样的,其对应的成员灰度像素均值用相同标号代替;步骤五:对标记过的SEM图像,判断并进行计算各分相微球形状信息和距离信息。
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