[发明专利]一种干式荧光免疫试剂卡的检测光强算法

摘要

本发明涉及一种干式荧光免疫试剂卡的检测光强算法，包括步骤：a、设定采样数据的单元范围F[x,y]；b、设置质控线C和检测线T的理想光强度峰值位置；c、定C和T线的实际光强度峰值位置；d、确定C和T线光强度峰体；e、确定C和T线背景光强；f、求C和T线峰体光强度；g、求T/C适用于采用处理线帧CCD收集的荧光信号，在干式荧光免疫试纸条定量分析中，用线帧CCD扫描试纸条收集荧光信号，本算法可以大大增加检测荧光光强，提高了干式荧光免疫定量试剂卡的检测精度。

主权项

一种干式荧光免疫试剂卡的检测光强算法，其特征在于，包括步骤：a、设定采样数据的单元范围F[x,y]，设定z轴为光强度；b、设置质控线C的理想光强度峰值位置P_0C、设置检测线T的理想光强度峰值位置P_0T，以及设置光强度的半波长λ_X；c、确定质控线C和检测线T的实际光强度峰值位置：以质控线C的理想峰值位置P_0C为中心线左右两侧N个点范围内最高光强值的位置定为质控线C的实际光强度峰值位置P_XCM；以检测线T的峰值位置P_0T为中心线左右两侧N个点范围内最高光强值的位置定为质控线C的实际光强度峰值位置P_XTM；d、确定质控线C的和检测线T的光强度峰体：设定以实际峰值位置P_XCM±λ_X的范围为质控线C的C峰体，定以实际峰值位置P_XTM±λ_X的范围为检测线T的T峰体；e、确定C峰体和T峰体的背景光强：根据C峰体两侧的任意数据利用最小二乘法拟合峰的背景面的光强Bc[x,y]，根据T峰体两侧的任意数据利用最小二乘法拟合峰的背景面的光强B_T[x,y]；f、计算C峰体的光强值和T峰体的光强值：C峰体的光强值为C峰体上的任意数据减去C峰体背景光强Bc[x,y]的总和；T峰体的光强值为T峰体上的任意数据减去T峰体背景光强B_T[x,y]的总和；g、计算T峰体的光强值与C峰体的光强值的比值。