[发明专利]一种制备高取向性石墨烯纳米结构的方法有效
申请号: | 201610198221.3 | 申请日: | 2016-04-01 |
公开(公告)号: | CN105668561B | 公开(公告)日: | 2017-11-17 |
发明(设计)人: | 万能 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | C01B32/184 | 分类号: | C01B32/184;B82Y40/00 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249 | 代理人: | 杨晓玲 |
地址: | 211189 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种高取向性石墨烯纳米结构的制备方法,该方法包括以下步骤步骤10)在衬底表面制备非晶碳纳米线,所述的非晶碳纳米线为含碳的有机物材料制成;步骤20)对非晶碳纳米线施加拉伸应力,并且进行电子束辐照,辐照能量小于非晶碳纳米线材料的表面溅射能量阈值,且小于非晶碳纳米线材料的体刻蚀阈值,辐照时间为5‑200分钟,从而制得高取向性石墨烯纳米结构。该方法可以获得高取向性的石墨烯纳米结构。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 向性 石墨 纳米 结构 方法 | ||
【主权项】:
一种高取向性石墨烯纳米结构的制备方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤10)在衬底表面制备非晶碳纳米线,所述的非晶碳纳米线为含碳的有机物材料制成;步骤20)对非晶碳纳米线施加拉伸应力,并且进行电子束辐照,辐照能量小于非晶碳纳米线材料的表面溅射能量阈值,且小于非晶碳纳米线材料的体刻蚀阈值,辐照时间为5‑200分钟,从而制得沿着应力或者应变方向取向的高取向性石墨烯纳米结构;所述的对非晶碳纳米线施加拉伸应力时,施加的拉伸应力低于非晶碳纳米线的断裂极限,且辐照过程中,由于应力释放导致的非晶碳纳米线沿长度方向产生的应变大于0.001%。
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