[发明专利]一种基于MLTT的IO功能测试方法在审
| 申请号： | 201610200373.2 | 申请日： | 2016-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN105843716A | 公开（公告）日： | 2016-08-10 |
| 发明（设计）人： | 姜敏 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 姜明 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于MLTT的IO功能测试方法，属于服务器技术IO测试领域；本发明根据测试需求选择对应MLTT测试模块，测试模块根据测试参数进行测试：使用MLTT对存储作IO的IOPS性能测试及throughput性能测试，分别创建test plan，选中所要测试的target，将targets置入test plan，选择合适的测试模板进行测试；使用MLTT对存储作压力性能测试，导入测试脚本，进行压力测试；所有测试完成输出结果到日志；本发明通过MLTT工具及测试脚本紧密结合，对各类接口的存储进行IO性能测试，从而更好的判断存储设备的性能，极大的提高性能及稳定性测试的质量及效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 mltt io 功能 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于MLTT的IO功能测试方法，其特征是根据测试需求修改测试脚本参数，或者手动添加测试参数；根据测试需求选择对应MLTT测试模块，测试模块根据测试参数进行测试：其中使用MLTT对存储作IO的IOPS性能测试及throughput性能测试，分别创建test plan，选中所要测试的target，将targets置入 test plan，选择合适的测试模板进行测试；使用MLTT对存储作压力性能测试，导入测试脚本，进行压力测试；所有测试完成输出结果到日志。
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