[发明专利]一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法

摘要

本发明属于光学检测领域，公开了一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法，通过本发明的定位装置记录下标准光学系统在测试设备上的测试姿态，更换被测光学系统后，在测试设备上复现该姿态，该姿态通过本发明的定位装置进行了一系列转换，基准镜法线方向代表光学系统的测试姿态，自准直光管光轴作为标准姿态的基准，再更换被测光学系统时，只需通过二维调整台将基准镜法线调至与自准直光管光轴平行即可实现姿态复现。本发明结构简便，定位准确性高，适合批量化产品的流水线作业，定位结束后，可直接进行相应指标的测试，免去了传统测试前的调试过程。

主权项

1.利用光学系统测试用快速定位装置对光学系统进行定位的方法，光学系统测试用快速定位装置包括瞄准单元、光学系统定位单元及姿态调整单元；所述瞄准单元包括自准直光管和监视器；所述光学系统定位单元包括基准板和基准镜；所述姿态调整单元包括二维调整台和单轴转台；所述二维调整台和基准板自下至上依次设置在单轴转台上；二维调整台用于调整基准板的方位及俯仰方向；标准光学系统和所述基准镜分别安装在基准板上；所述监视器与自准直光管电连接，自准直光管朝向基准镜、用于对基准镜进行自准直，监视器用于监控自准直光管十字光标经基准镜返回的十字光标像；其特征在于，包括以下步骤：1)确定标准测试姿态1.1)将标准光学系统固定在基准板上，通过二维调整台不断调整标准光学系统的姿态，直到标准光学系统的光轴与测试设备的光轴同轴或平行，记录此时单轴转台转角θ1；1.2)转动单轴转台，带动光学系统定位单元将基准镜法线转至与自准直光管光轴大致平行处，记录此时单轴转台转角θ2；1.3)根据监视器中基准镜返回的十字光标像，调整自准直光管的方位及俯仰姿态，直到十字光标像与监视器中心重合，即完成对基准镜的自准直，自准直光管的光轴作为基准保持不变，完成标准测试姿态的确定；2)撤走标准光学系统；3)将被测光学系统固定在基准板上，根据监视器中基准镜返回的十字光标像，调节二维调整台的方位俯仰方向，直到十字光标像与监视器中心重合；4)转动单轴转台至θ1处，完成对被测光学系统的定位，此时，被测光学系统的光轴与测试设备的光轴同轴或平行，然后在测试设备上对被测光学系统进行相应指标的测试；5)再次更换被测光学系统时，将转台转至θ2处，重复步骤3)至步骤4)即可。