[发明专利]一种用于RFID标签芯片集中CP测试方法在审
| 申请号： | 201610205710.7 | 申请日： | 2016-04-05 |
| 公开（公告）号： | CN106872874A | 公开（公告）日： | 2017-06-20 |
| 发明（设计）人： | 沈红伟;范东风;余秋芳;廖昱旻;邱家兴;崔葛;陈会军 | 申请（专利权）人： | 华大半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于RFID标签芯片集中CP测试的方法，包括测试仪器向中央测试芯片下发测试命令；中央测试芯片向被测标签芯片下发测试命令；测试结束，被测标签芯片与中央测试芯片分离。采用本发明所述的方法，可以实现数据并行下发，因此实现标签芯片存储器的并行写入，以达到快速高效的测试目的；也通过总线控制，实现中央测试芯片与单颗被测芯片的单对单通信，实现芯片初始化工厂码写入的问题，以及相关测试向量的交互通信。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 rfid 标签 芯片 集中 cp 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种用于RFID标签芯片集中CP测试的方法，其特征在于，该方法包括：测试仪器向中央测试芯片下发测试命令；中央测试芯片向被测标签芯片下发测试命令；测试结束，被测标签芯片与中央测试芯片分离。
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