[发明专利]基于割线迭代法的励磁机饱和系数计算方法

摘要

本发明提供一种基于割线迭代法的励磁机饱和系数计算方法，通过割线迭代法渐进拟合励磁机空载曲线，以达到计算饱和系数的目的。本方法避免了靠人工辨识导致的误差，并可适应含干扰的测试数据。本发明具有比人工判读更为准确一致的计算结果，避免了不同人工判读结果不同的问题，适用于基于励磁机空载特性曲线的励磁机饱和系数计算。

主权项

一种基于割线迭代法的励磁机饱和系数计算方法，其特征在于包括如下步骤：(1)通过励磁机空载特性试验，得到一组励磁机空载试验数据：X＝{Ii,Ui},i＝1,2,…,m；其中Ui为测得的励磁电压值，Ii为测得的励磁机励磁电流值，m为大于等于2的正整数；(2)由最小二乘法原理，建立以下迭代方程组：Σi=1m[Ii-Ui(1+C1eC2Ui)]UieC2Ui=0Σi=1m[Ii-Ui(1+C1eC2Ui)]Ui2eC2Ui=0]]>其中C1和C2为励磁机饱和系数，由最小二乘法原理可知，满足上式的饱和系数C1和C2拟合的曲线有最小的均方差；(3)从变量C2的某个初始值C2,1出发，依步骤(2)的前两式，解出变量C1的两个初始值C1,1(1)和C1,1(2)：C1,1(1)=Σi=1m(Ii-Ui)UieC2,1UiΣi=1mUi2e2C2,1UiC1,1(2)=Σi=1m(Ii-Ui)Ui2eC2,1UiΣi=1mUi3e2C2,1Ui]]>(4)将解出的两个C1初始值一起代入判别式：F1＝C1,1(1)‑C1,1(2)(5)若上述判别式结果大于0，则减小C2的数值使其为C2,2；若结果小于0，则增加C2的数值使其为C2,2：C2,2＝C2,1‑0.1,if(C1,1(1)‑C1,1(2))>0，C2,2＝C2,1+0.1,if(C1,1(1)‑C1,1(2))<0，(6)用步骤(5)得到的C2的新值C2,2，重复计算步骤(3)‑(4)的公式，得到新的值F2：C1,2(1)=Σi=1m(Ii-Ui)UieC2,2UiΣi=1mUi2e2C2,2UiC1,2(2)=Σi=1m(Ii-Ui)Ui2eC2,2UiΣi=1mUi3e2C2,2UiF2=C1,2(1)-C1,2(2)]]>(7)用割线迭代公式，计算C2的修正值C2,3：(8)重复步骤(6)‑(7)，进行迭代求解：C1,j(1)=Σi=1m(Ii-Ui)UieC2,jUiΣi=1mUi2e2C2,jUiC1,j(2)=Σi=1m(Ii-Ui)Ui2eC2,jUiΣi=1mUi3e2C2,jUiFj=C1,j(1)-C1,j(2)C2,j+1=C2,j-1+C2,j-C2,j-1Fj-1-FjFj-1,j≥3]]>(9)当步骤(8)中第三个方程式绝对值小于10‑9时，即可得满足条件的饱和系数C1和C2，其中C1取最后一次计算C1(1)和C1(2)的平均值。