[发明专利]一种腐蚀坑深度的显微检测方法在审
申请号: | 201610210573.6 | 申请日: | 2016-04-06 |
公开(公告)号: | CN105865367A | 公开(公告)日: | 2016-08-17 |
发明(设计)人: | 陈国权;李佳珊;韩雪 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨飞机工业集团有限责任公司 |
主分类号: | G01B11/22 | 分类号: | G01B11/22 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 杜永保 |
地址: | 150066 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 本发明公开了一种腐蚀坑深度的显微检测方法,包括确定腐蚀区域、清理腐蚀区域、用无水酒精棉擦拭腐蚀区域、对测量标尺和显微镜进行校准、测量显微镜物镜对准腐蚀坑周围的表面图像和底部图像最清晰时的两个刻度、将两次测得刻度值做差得到腐蚀坑深度值并取平均值的步骤。本发明的腐蚀坑深度的显微检测方法,能较准确的进行腐蚀坑深度进行测量,控制了产品质量,同时避免破坏产品,提高了检测速度。 | ||
搜索关键词: | 一种 腐蚀 深度 显微 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种腐蚀坑深度的显微检测方法,所述方法包括以下步骤:1)目视检查产品表面,确定腐蚀区域;2)对腐蚀区域进行清理,将腐蚀区域表面轻轻打磨,不损伤零件表面,清理掉腐蚀坑内的腐蚀产物和异物;3)用无水酒精棉对腐蚀区域进行擦拭;4)将测量标尺与显微镜调整焦距的旋钮相连,测量之前,对测量标尺和显微镜进行校准;5)将显微镜物镜对准腐蚀坑周围的表面进行对焦,使腐蚀坑周围的表面图像达到最清晰;6)将显微镜物镜对准腐蚀坑,调焦距,使腐蚀坑底部图像达到最清晰;7)调整焦距时,调整焦距的旋钮旋转带动测量标尺的刻度发生变化,记录测量标尺在腐蚀坑周围的表面图像达到最清晰时与腐蚀坑底部图像达到最清晰时的刻度,将两次测得刻度值做差,得到腐蚀坑深度值;8)执行上述步骤5)‑7)三次,求腐蚀坑深度值的平均值,即为腐蚀坑深度值最终测量值。
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