[发明专利]连续面形石英微光学元件机械-刻蚀复合加工方法在审
申请号: | 201610213364.7 | 申请日: | 2016-04-08 |
公开(公告)号: | CN105738980A | 公开(公告)日: | 2016-07-06 |
发明(设计)人: | 张为国;朱国栋;张东;熊欣;刘风雷;史浩飞;杜春雷 | 申请(专利权)人: | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
主分类号: | G02B3/00 | 分类号: | G02B3/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 400714 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种连续面形石英微光学元件机械‑刻蚀复合加工方法,主要采用高分子材料涂覆及固化、金刚石超精密切削掩模、等离子体刻蚀工艺流程。该方法可实现石英材质微透镜列阵、微柱透镜、菲涅尔透镜等微光学元件的高精度制作,为紫外波段高质量微光学元件的精确制作提供一种有效的解决方案,推动小型化、集成化、紧凑型光电设备的发展。 | ||
搜索关键词: | 连续 石英 微光 元件 机械 刻蚀 复合 加工 方法 | ||
【主权项】:
一种连续面形石英微光学元件机械‑刻蚀复合加工方法,其特征在于,该复合加工方法步骤如下:(1)高分子材料的制作:在石英基底上涂覆高分子材料,然后固化;(2)超精密切削掩模:先将固化后的高分子材料连同石英基底整体进行平整化处理,再采用金刚石精密切削出高分子材料的连续面形微结构掩模;(3)等离子体刻蚀传递:采用传递式干法刻蚀,利用等离子体对材料的刻蚀去除作用,将高分子材料微结构传递至石英基底,刻蚀气体种类包括氧气、氩气、三氟甲烷、六氟化硫等气体的一种或几种组合,刻蚀气体流量通常在100sccm以下,刻蚀功率每平方分米不大于300W。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院重庆绿色智能技术研究院,未经中国科学院重庆绿色智能技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610213364.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:探测器滤波窗口
- 下一篇:一种新型背景抑制型光电传感器