[发明专利]低比导的新型高压SJ功率器件在审

专利信息
申请号: 201610213736.6 申请日: 2016-04-08
公开(公告)号: CN106531802A 公开(公告)日: 2017-03-22
发明(设计)人: 吴丽娟;宋月;章中杰;杨航;胡利民;袁娜 申请(专利权)人: 长沙理工大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/40;H01L29/739
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 410114 湖南省长沙*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明涉及的低比导新型高压SJ功率器件属于功率半导体器件技术领域。本发明在横向SJ功率器件的N型漂移区中引入P型埋层,漏端引入N型缓冲层,在器件上表面引入双场板结构。P型埋层辅助耗尽N型漂移区,提高了漂移区的掺杂浓度,降低了器件的比导通电阻。漏端的N型缓冲层替代了漏端下的SJ结构,在一定程度上起到了削弱衬底辅助耗尽效应,同时可以辅助耗尽漂移区中未完全耗尽的P型埋层,使得超结几乎不参与纵向耐压,从而保证超结的电荷平衡。双场板结构就是含有两种场板的结构,分别是源终端和漏终端场板。场板可以和器件电极一起形成,无需其它工艺步骤。本发明在降低器件的比导通电阻的同时可有效改善体电场分布,提高器件的耐压。采用本发明可获得各种性能优良的横向低比导高耐压SJ功率器件。
搜索关键词: 新型 高压 sj 功率 器件
【主权项】:
低比导的新型高压SJ功率器件,其元胞结构包括P型衬底1、N型漂移区21,其特征在于:所述N型漂移区21包括P型体区31、SJ结构、N型缓冲层25和P型埋层34,P型体区31设置在N型漂移区21一端。
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