[发明专利]一种提升LED光效的外延生长方法有效

专利信息
申请号: 201610214980.4 申请日: 2016-04-08
公开(公告)号: CN105655455B 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 张宇;苗振林;徐平 申请(专利权)人: 湘能华磊光电股份有限公司
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04;H01L33/14;H01L33/00
代理公司: 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11603 代理人: 于淼
地址: 423038 湖南省郴*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 本申请公开提升LED光效的外延生长方法,生长电子阻挡层为生长pAlGaN/pGaN/pInGaN超晶格层,进一步为通入NH3、TMGa、H2、TMAl、Cp2Mg,生长pAlGaN;通入NH3、TMGa、H2、Cp2Mg,生长pGaN,Mg掺杂浓度1E19atoms/cm3‑1E20atoms/cm3;通入NH3、TMGa、H2、TMIn、Cp2Mg,生长pInGaN,In掺杂浓度1E19atoms/cm3‑5E19atoms/cm3,Mg掺杂浓度1E19atoms/cm3‑1E20atoms/cm3;周期性生长pAlGaN层、pGaN层和pInGaN层,周期数为4‑8,生长顺序可置换。
搜索关键词: 一种 提升 led 外延 生长 方法
【主权项】:
一种提升LED光效的外延生长方法,依次包括:处理衬底、生长低温缓冲层GaN、生长不掺杂GaN层、生长掺杂Si的N型GaN层、交替生长掺杂In的InxGa(1‑x)N/GaN发光层、生长电子阻挡层、生长掺杂Mg的P型GaN层,降温冷却,其特征在于,所述生长不掺杂GaN层进一步为:升高温度到1000℃‑1200℃,保持反应腔压力300mbar‑600mbar,通入流量为30000sccm‑40000sccm的NH3、200sccm‑400sccm的TMGa、100L/min‑130L/min的H2、持续生长2μm‑4μm的不掺杂GaN层;所述生长掺杂Si的N型GaN层进一步为:保持反应腔压力、温度不变,通入流量为30000sccm‑60000sccm的NH3、200sccm‑400sccm的TMGa、100L/min‑130L/min的H2、20sccm‑50sccm的SiH4,持续生长3μm‑4μm掺杂Si的N型GaN,Si掺杂浓度5E18atoms/cm3‑1E19atoms/cm3;保持反应腔压力、温度不变,通入流量为30000sccm‑60000sccm的NH3、200sccm‑400sccm的TMGa、100L/min‑130L/min的H2、2sccm‑10sccm的SiH4,持续生长200μm‑400μm掺杂Si的N型GaN,Si掺杂浓度5E17atoms/cm3‑1E18atoms/cm3;所述交替生长掺杂In的InxGa(1‑x)N/GaN发光层进一步为:保持反应腔压力300mbar‑400mbar、温度700℃‑750℃,通入流量为50000sccm‑70000sccm的NH3、20sccm‑40sccm的TMGa、1500sccm‑2000sccm的TMIn、100L/min‑130L/min的N2,生长掺杂In的2.5nm‑3.5nm的InxGa(1‑x)N层,x=0.20‑0.25,发光波长450nm‑455nm;接着升高温度至750℃‑850℃,保持反应腔压力300mbar‑400mbar,通入流量为50000sccm‑70000sccm的NH3、20sccm‑100sccm的TMGa、100L/min‑130L/min的N2,生长8nm‑15nm的GaN层;重复InxGa(1‑x)N的生长,然后重复GaN的生长,交替生长InxGa(1‑x)N/GaN发光层,控制周期数为7‑15个;所述生长电子阻挡层为生长pAlGaN/pGaN/pInGaN超晶格层,所述生长pAlGaN/pGaN/pInGaN超晶格层进一步为:保持反应腔压力200mbar、温度900℃‑950℃,通入流量为50000sccm‑70000sccm的NH3、30sccm的TMGa、100L/min‑130L/min的H2、100sccm的TMAl、1000sccm‑1800sccm的Cp2Mg,生长2nm‑5nm的pAlGaN,Al掺杂浓度1E20atoms/cm3‑3E20atoms/cm3,Mg掺杂浓度1E19atoms/cm3‑1E20atoms/cm3;保持反应腔压力200mbar、温度900℃‑950℃,通入流量为50000sccm‑70000sccm的NH3、30sccm的TMGa、100L/min的H2、1000sccm‑1800sccm的Cp2Mg,生长2nm‑5nm的pGaN,Mg掺杂浓度1E19atoms/cm3‑1E20atoms/cm3;保持反应腔压力200mbar、温度900℃‑950℃,通入流量为50000sccm‑70000sccm的NH3、30sccm的TMGa、100L/min的H2、1000sccm‑1500sccm的TMIn、1000sccm‑1800sccm的Cp2Mg,生长2nm‑5nm的pInGaN,In掺杂浓度1E19atoms/cm3‑5E19atoms/cm3,Mg掺杂浓度1E19atoms/cm3‑1E20atoms/cm3;周期性生长pAlGaN层、pGaN层和pInGaN层,周期数为4‑8,生长pAlGaN层、pGaN层和pInGaN层的顺序可置换。
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