[发明专利]一种应用于热释电探测器的测试电路有效

专利信息
申请号: 201610216991.6 申请日: 2016-04-08
公开(公告)号: CN105910719B 公开(公告)日: 2018-08-10
发明(设计)人: 梁志清;刘子骥;马振东;王涛 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01J5/34 分类号: G01J5/34
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种应用于热释电探测器的测试电路,属于热释电探测器电子技术领域。本发明的测试电路包括:探测器(1)、结型场效应管(2)、偏置电阻(3)、叉指电容(4)和保护电阻(5);探测器(1)、偏置电阻(3)、叉指电容(4)、保护电阻(5)依次串联,偏置电阻(3)和叉指电容(4)串联后与结型场效应管(2)并联一并与探测器(1)正极端相连接,探测器(1)负极端和保护电阻(5)之间接地。本发明通过叉指电容的应用从而达到减小等效电容而不是减小电阻来提高探测器的响应速度,在保证响应度的条件下,能显著提高热释电探测器的响应速度。
搜索关键词: 一种 应用于 热释电 探测器 测试 电路
【主权项】:
1.一种应用于热释电探测器的测试电路,其特征在于,包括探测器(1)、结型场效应管(2)、偏置电阻(3)、叉指电容(4)和保护电阻(5);探测器(1)、偏置电阻(3)、叉指电容(4)、保护电阻(5)依次串联,偏置电阻(3)和叉指电容(4)串联后与结型场效应管(2)并联一并再通过结型场效应管(2)的栅极与探测器(1)正极端相连接,探测器(1)负极端和保护电阻(5)之间接地。
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