[发明专利]用于微波系统中的阻抗检测的电路及方法有效
| 申请号： | 201610221375.X | 申请日： | 2016-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN106053943B | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 克里希南舒·丹杜;布莱恩·P·金斯伯格 | 申请（专利权）人： | 德州仪器公司 |
| 主分类号： | G01R27/04 | 分类号： | G01R27/04;G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于毫米波系统中的阻抗检测的电路及方法。一种用于确定微波系统中的第一级与第二级之间的复阻抗的方法(500)，其包含检测(502)由所述第一级发射的入射信号Vi及检测(504)从所述第二级反射的反射信号Vr。测量(506、508)所述入射信号Vi及所述反射信号Vr的量值。将所述检测到的入射信号相移第一角度以产生第一入射信号，且将所述检测到的反射信号相移所述第一角度以产生第一反射信号(510、512)。将所述检测到的入射信号及所述第一入射信号与所述检测到的反射信号及所述第一反射信号混合(514)。基于所述入射信号Vi与所述反射信号Vr的所述混合及所述量值确定(516)反射系数的角度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 微波 系统 中的 阻抗 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种用于确定微波系统中的第一级与第二级之间的复阻抗的方法，所述方法包括：检测由所述第一级发射的入射信号：检测从所述第二级反射的反射信号；测量所述入射信号的量值；测量所述反射信号的量值；将所述检测到的入射信号相移第一角度以产生第一入射信号；将所述检测到的反射信号相移所述第一角度以产生第一反射信号；将所述检测到的入射信号及所述第一入射信号与所述检测到的反射信号及所述第一反射信号混合；以及基于所述入射信号与所述反射信号的所述混合及所述量值确定反射系数的角度。
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