[发明专利]基于闪光X光机的超快X射线衍射成像方法及系统有效

专利信息
申请号: 201610221465.9 申请日: 2016-04-11
公开(公告)号: CN105758880B 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 唐波;黑东炜;马戈;盛亮;欧阳晓平;魏福利;罗剑辉;夏惊涛;周海生 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G01N23/205 分类号: G01N23/205
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 杨亚婷
地址: 71002*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种基于闪光X光机的超快X射线衍射成像方法及系统,包括闪光X光机,闪光X光机包括闪光X射线二极管,还包括衍射调节子系统、探测器子系统及辅助调节子系统;本发明方法采用新的衍射光路调节方法,即将直流X光机、衍射调节系统及计数型探测器组装,确定闪光X射线二极管管阳极特征线能量的精确衍射角后再使用面阵探测器。该方法可解决闪光X射线衍射光路调节困难的问题,同时确定的精确衍射角可提高衍射图像的信噪比,大大降低了系统的复杂度。
搜索关键词: 基于 闪光 射线 衍射 成像 方法 系统
【主权项】:
1.基于闪光X光机的超快X射线衍射成像系统,包括闪光X光机、衍射调节子系统、探测器子系统及辅助调节子系统;所述闪光X光机包括闪光X射线二极管;所述衍射调节子系统包括前准直器及衍射角度调节器,所述前准直器用于调节X射线的发散度,所述衍射角度调节器用于支撑及调节待测晶体与入射X射线间的角度;所述探测器子系统采用面阵探测器,实时记录衍射图像,用于冲击压缩过程中晶体晶格间距变化的分析;所述辅助调节子系统包括直流X光机及计数型探测器,所述直流X光机用于发射X射线,所述计数型探测器用于实时记录经晶体衍射后的X射线光子数,直流X光机及计数型探测器配合衍射角度调节器确定特征X射线所对应待测晶体精确衍射角;所述衍射调节子系统还包括X射线聚焦透镜,所述X射线聚焦透镜与闪光X射线二极管直接连接;其特征在于:所述衍射调节子系统还包括设置在待测晶体衍射光线上的后准直器,所述后准直器用于减小散射本底对于成像结果的影响。
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