[发明专利]一种基于并联金属性接触电弧故障的AFDD测试系统有效
申请号: | 201610222365.8 | 申请日: | 2016-04-12 |
公开(公告)号: | CN105866719B | 公开(公告)日: | 2018-11-27 |
发明(设计)人: | 许志红;苏晶晶;金闪 | 申请(专利权)人: | 福州大学 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 350108 福建省福州市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于并联金属性接触电弧故障的AFDD测试系统,包括切割电缆试验装置、AFDD测试装置和上位机测控分析平台;AFDD测试装置包括一MCU控制单元、第一隔离控制模块、第二隔离控制模块、AFDD测试模块和脱扣检测模块,MCU控制单元经第一隔离控制模块与AFDD测试模块电连;MCU控制单元经第二隔离控制模块与切割电缆试验装置电连,切割电缆试验装置的第一试验电缆和第二试验电缆经一电压传感器和电流传感器与AFDD测试模块电连,切割电缆试验装置旁侧还设有弧光传感器,弧光传感器、电流传感器和电压传感器分别将采集的电弧弧光、电弧电流和电弧电压信号经一信号调理模块、数据采集模块输入至上位机测控分析平台,实现电弧的电气特性研究,测试效率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 并联 金属性 接触 电弧 故障 afdd 测试 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基于并联金属性接触电弧故障的AFDD测试系统,其特征在于:包括切割电缆试验装置、与所述切割电缆试验装置电连的AFDD测试装置和与所述AFDD测试装置进行数据通信的上位机测控分析平台;所述AFDD测试装置包括一MCU控制单元、第一隔离控制模块、第二隔离控制模块、AFDD测试模块和脱扣检测模块,所述MCU控制单元经第一隔离控制模块与所述AFDD测试模块电连,所述AFDD测试模块经脱扣检测模块与所述第一隔离模块电连;所述MCU控制单元经第二隔离控制模块与所述切割电缆试验装置电连,所述切割电缆试验装置经一测距传感器与所述第二隔离控制模块电连;所述切割电缆试验装置包括紧密连接的第一试验电缆和第二试验电缆,所述第一试验电缆和第二试验电缆经一电压传感器和电流传感器与所述AFDD测试模块电连,所述切割电缆试验装置旁侧还设有用于测量电弧弧光的弧光传感器,所述弧光传感器、电流传感器和电压传感器分别将采集的电弧弧光、电弧电流和电弧电压信号经一信号调理模块、数据采集模块输入至上位机测控分析平台;所述上位机测控分析平台包括一与所述数据采集模块电连的数据读取模块,所述数据读取模块依次经数据处理与存储模块、数据分析模块与一人机交互界面电连,所述数据处理与存储模块还依次经电流电压波形数据库、电流电压波形显示模块与所述人机交互界面电连。
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