[发明专利]一种结构陶瓷样品介电性能测量装置及方法在审
| 申请号： | 201610227815.2 | 申请日： | 2016-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN105911361A | 公开（公告）日： | 2016-08-31 |
| 发明（设计）人： | 陈利祥;葛晓辉;姜学军;武青;石星军;孙欣;周旭波;徐韶鸿 | 申请（专利权）人： | 青岛大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 青岛高晓专利事务所 37104 | 代理人： | 黄晓敏 |
| 地址： | 266071 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明属于结构陶瓷样品介电性能测量技术领域，涉及一种结构陶瓷样品介电性能测量装置，微波烧结装置内安装有温度采集装置和样品，样品的两端设置有平行板电容器，温度采集装置和样品之间不互相接触，样品和温度采集装置引出的导引线分别与介电性能测试装置和测温装置相连，数据处理系统分别与介电性能测试装置和测温装置相连，介电性能测试装置和测温装置分别将所得的数据信息传送给数据处理系统，数据处理系统处理从测温装置和介电性能测试装置传输来的数据，得到样品在不同频率和不同温度下的介电常数和介电损耗；其结构简单，操作方便，原理科学，能实时获得结构陶瓷样品介电性能随温度变化的规律。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 陶瓷 样品 性能 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种结构陶瓷样品介电性能测量装置，其特征在于主体结构包括数据处理系统、测温装置、介电性能测试装置、微波烧结装置、样品、温度采集装置和平行板电容器，微波烧结装置内安装有温度采集装置和样品，微波烧结装置控制样品的温度变化范围为室温到1000摄氏度，样品的两端设置有平行板电容器，样品的直径尺寸小于30mm；温度采集装置和样品之间不互相接触，样品和温度采集装置引出的导引线分别与介电性能测试装置和测温装置相连，介电性能测试装置用于测量样品的电容和介电损耗，测温装置用来测量样品的温度，数据处理系统采用IEEE‑488电缆分别与介电性能测试装置和测温装置相连，介电性能测试装置和测温装置分别将所得的数据信息传送给数据处理系统，数据处理系统处理从测温装置和介电性能测试装置传输来的数据，得到样品在不同频率和不同温度下的介电常数和介电损耗。
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