[发明专利]一种基于影像组学的多模态磁共振图像差异检测方法及装置有效
申请号: | 201610228491.4 | 申请日: | 2016-04-13 |
公开(公告)号: | CN105931221B | 公开(公告)日: | 2019-03-15 |
发明(设计)人: | 田捷;刘振宇;沈忱;董迪;臧亚丽;杨彩云;徐敏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 钟文芳 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于影像组学的多模态磁共振图像差异检测方法和装置。所述方法包括:步骤1:对两组样本图像进行预处理,分别在两组样本图像的T2WI‑FLAIR、T1WI‑CE和DWI‑ADC三个序列上勾画感兴趣区域,提取三个序列上感兴趣区域的图像特征;步骤2:在两组样本图像之间对每个图像特征进行双样本T检验,得到两组样本图像之间具有组间差异的特征,并判定所述组间具有差异的特征检测两组样本图像差异的能力;步骤3:将具有组间差异的特征以加权的方式进行组合,得到一个新的特征,并利用adaboost分类器进行图像分类。本发明利用了磁共振成像多序列多参数的特性,结合不同序列获取更多信息,能够实现磁共振图像组间差异的精准检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 影像 多模态 磁共振 图像 差异 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种基于影像组学的多模态磁共振图像差异检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:对两组样本图像进行预处理,分别在两组样本图像的T2WI‑FLAIR、T1WI‑CE和DWI‑ADC三个序列上勾画感兴趣区域,提取三个序列上感兴趣区域的图像特征;步骤2:在两组样本图像之间对每个图像特征进行双样本T检验,得到两组样本图像之间具有组间差异的特征,并判定所述具有组间差异的特征检测两组样本图像差异的能力;步骤3:将具有组间差异的特征以加权的方式进行组合,得到一个新的特征,并利用adaboost分类器进行图像分类;其中,在步骤3中通过如下组合得到新的特征:
其中,F(xi)为组合得到的新的特征,xi是第i个样本图像,wt是利用第t个具有组间差异的特征做双样本T检验得到的组间差异,Ft是第t个具有组间差异的特征,n为两组样本图像间具有组间差异的特征的个数。
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