[发明专利]一种显微CT扫描土体空间孔隙结构的精细化表征方法在审

专利信息
申请号: 201610228499.0 申请日: 2016-04-13
公开(公告)号: CN105806765A 公开(公告)日: 2016-07-27
发明(设计)人: 张巍;梁小龙;唐心煜;徐炎达;肖瑞;施斌 申请(专利权)人: 南京大学(苏州)高新技术研究院;南京大学
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08;G01N23/04;G06T7/00
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 陈建和
地址: 215000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种砂土空间孔隙的精细化表征方法,1)图像的三维二值矩阵表征,一幅显微CT二值数字图像由m×n个像素点所组成,每个像素点的取值为0或1,则该二值数字图像本质上对应于一个二维的二值(0‑1)矩阵,矩阵中每一个元素与图像中每一个像素点相对应,矩阵元素取值为0代表该元素所对应像素为孔隙;取值为1代表该元素所对应像素为颗粒;2)体积孔隙率及空间孔隙分布计算,通过分析断层图像序列,计算出试样的体积孔隙率及表观孔隙率分布。3)空间任意切面的提取,首先根据切面始末两端的位置以及范围,确定出REV三维二值矩阵的始末行、列,并将其作为切面二值矩阵的首、尾行向量;再根据切面的方向,依次确定切面二值矩阵中的其他行向量。
搜索关键词: 一种 显微 ct 扫描 空间 孔隙 结构 精细 表征 方法
【主权项】:
一种砂土空间孔隙的精细化表征方法,其特征在于:1)图像的三维二值矩阵表征假设一幅显微CT二值数字图像由m×n个像素点所组成,每个像素点的取值为0或1,则该二值数字图像本质上对应于一个二维的二值(0‑1)矩阵,矩阵中每一个元素与图像中每一个像素点相对应,矩阵元素取值为0代表该元素所对应像素为孔隙;取值为1代表该元素所对应像素为颗粒;同理,对于三维重构所获得的任意一个REV,都对应于一个三维二值矩阵;2)体积孔隙率及空间孔隙分布计算通过分析断层图像序列,计算出试样的体积孔隙率及表观孔隙率分布;假定显微CT切面扫描间距为dz,REV切片上下边界范围分别为l与u,高度位置断层的表观孔隙率,当扫描间距足够小时,可视作该断层切片的上下dz/2间距内的表观孔隙率均为则REV的空间孔隙率可用其所有离散切片的表观孔隙率近似表示为:3)空间任意切面的提取首先根据切面始末两端的位置以及范围,确定出REV三维二值矩阵的始末行、列,并将其作为切面二值矩阵的首、尾行向量;再根据切面的方向,依次确定切面二值矩阵中的其他行向量;4)空间孔径分析空间孔径采用等效球方法定义,即每个空间孔隙都具有一定体积,将该体积等效于一个球的体积,该体积球体的直径即等效孔径;所有孔隙的等效孔径之和与孔隙总数之比即平均孔径;经计算得到等效孔径和平均之后,对所得数据进行统计分析,得出孔径的分布规律。
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