[发明专利]一种冻干机共晶点共熔点测试设备及其测试系统有效
| 申请号： | 201610228865.2 | 申请日： | 2016-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN105784753B | 公开（公告）日： | 2018-12-28 |
| 发明（设计）人： | 王劲松;王霞宇 | 申请（专利权）人： | 王劲松 |
| 主分类号： | G01N25/04 | 分类号： | G01N25/04;G01N25/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 629200 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种冻干机共晶点共熔点测试设备，包括共熔点测试仓及设置设置在共熔点测试仓下方的共晶点测试仓，所述共熔点测试仓包括呈中空圆筒状的冻干仓及设置在冻干仓内部的加热盘，在所述加热盘上设置有物料盘，在该物料盘内设置有共熔点测试笔，在所述冻干仓顶部设置有上盖，在所述冻干仓底部设置有下盖，在所述下盖下方设置有不锈钢面板，所述共晶点测试仓位于所述不锈钢面板下方，在所述共晶点测试仓内设置有物料盘，在该物料盘内设置有共晶点测试笔，在所述共晶点测试仓外围设置有蒸发器。本发明能够实现真空、冷冻、干燥、同时又能对物料共晶点、共熔点温度进行检测与分析；并自动根据“共晶点”“共熔点”温度对冻干工艺设置温度控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 冻干机共晶点共 熔点 测试 设备 及其 系统 | ||
【主权项】：
1.一种冻干机共晶点共熔点测试设备，其特征在于：包括共熔点测试仓及设置在共熔点测试仓下方的共晶点测试仓(106)，所述的共熔点测试仓包括呈中空圆筒状的冻干仓(101)及设置在冻干仓(101)内部的加热盘(102)，在所述的加热盘(102)上设置有物料盘，在该物料盘内设置有共熔点测试笔，在所述的冻干仓(101)顶部设置有上盖(103)，在所述的冻干仓(101)底部设置有下盖(104)，在所述的下盖(104)下方设置有不锈钢面板(105)，所述的共晶点测试仓(106)位于所述的不锈钢面板(105)下方，在所述的共晶点测试仓(106)内设置有物料盘，在该物料盘内设置有共晶点测试笔，在所述的共晶点测试仓(106)外围设置有蒸发器(107)，在所述的共晶点测试仓(106)上设置有抽真空口(109)，在所述的不锈钢面板(105)上设置有通孔使所述的冻干仓(101)与所述的共晶点测试仓(106)相连通，在所述的共晶点测试仓(106)下方设置有排水口，在所述的不锈钢面板(105)上方设置有检测点(111)；在所述的上盖(103)下端面上设置有环状凹槽(110)，在所述的环状凹槽(110)内嵌有密封圈，所述的冻干仓(101)的上端面能够嵌入到所述的环状凹槽(110)内；在所述的下盖(104)的上端面上设置有环状凹槽(110)，在该环状凹槽(110)内嵌有密封圈，所述的冻干仓(101)的下端面能够嵌入到所述的环状凹槽(110)内；所述的加热盘(102)螺栓连接在所述的冻干仓(101)内侧。
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