[发明专利]一种激光钻孔装置及方法在审

专利信息
申请号: 201610230272.X 申请日: 2016-04-14
公开(公告)号: CN107309556A 公开(公告)日: 2017-11-03
发明(设计)人: 方志鑫;吴超森;李强;翟学涛;杨朝辉;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司
主分类号: B23K26/38 分类号: B23K26/38;B23K26/064;B23K26/70
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司11340 代理人: 汪琳琳
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种激光钻孔装置及方法,该装置包括激光器、第一反射镜、第二反射镜、光束整形系统、振镜扫描聚焦系统、加工工件PCB板和加工平台;所述加工工件PCB板设置于加工平台上,振镜扫描聚焦系统位于所述加工工件PCB板上方;第一反射镜、光束整形系统和第二反射镜由上至下同轴设置,并位于振镜扫描聚焦系统的一侧,第二反射镜与振镜扫描聚焦系统沿同一水平轴线布置;激光器沿同一水平轴线设置在第一反射镜的一侧。本发明的优点是利用光束整形系统消除了高斯激光对PCB板钻孔边缘切屑力量不够容易形成残胶的影响,实现高精度、高品质的钻孔效果。
搜索关键词: 一种 激光 钻孔 装置 方法
【主权项】:
一种激光钻孔装置,其特征在于:包括激光器(10)、第一反射镜(21)、第二反射镜(22)、光束整形系统(30)、振镜扫描聚焦系统、加工工件PCB板(80)和加工平台(90);所述加工工件PCB板(80)设置于加工平台(90)上,振镜扫描聚焦系统位于所述加工工件PCB板(80)上方;第一反射镜(21)、光束整形系统(30)和第二反射镜(22)由上至下同轴设置,并位于振镜扫描聚焦系统的一侧,第二反射镜(22)与振镜扫描聚焦系统沿同一水平轴线布置;激光器(10)沿同一水平轴线设置在第一反射镜(21)的一侧;所述激光器(10)用于射出高斯激光,第一反射镜(21)用于将高斯激光反射至光束整形系统(30),所述光束整形系统(30)用于将高斯激光整形成平顶光束后射入到第二反射镜(22),第二反射镜(22)用于将平顶光束反射至振镜扫描聚焦系统;振镜扫描聚焦系统用于将平顶光束聚焦成加工光斑后,通过光斑对加工平台(90)上的加工工件PCB板(80)进行钻孔加工。
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