[发明专利]一种放射性碘活性炭取样滤盒的探测效率校准方法有效
| 申请号： | 201610231698.7 | 申请日： | 2016-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN107300714B | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | 陈立;唐智辉;王勇;韦应靖;黄亚雯;冯梅;李强;杨慧梅;牛蒙青 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院;清华大学 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;任晓航 |
| 地址： | 030006 *** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种放射性碘活性炭取样滤盒的探测效率校准方法，根据碘在取样滤盒中的吸附规律，使用标准面源校准探测器对取样滤盒不同深度处探测，然后通过将取样滤盒正反向放置各测量一次，即可获得探测器对取样滤盒中吸附的碘的探测效率。本发明能为核电站等涉及到气态放射性碘监测的场所准确可靠地测量放射性碘活度浓度提供技术支持。本发明利用实验室校准测得的面源探测效率随面源在取样滤盒中深度的变化曲线和根据实验测得正向和反向放置取样滤盒时的探测器全能峰计数，本发明设计的方法能简单、快速地获得取样滤盒中碘的指数递减分布参数和探测器对碘的探测效率，且该方法量值可以溯源到国家计量标准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 放射性 活性炭 取样 探测 效率 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种放射性碘活性炭取样滤盒的探测效率校准方法，其特征在于：所述方法包括如下步骤：步骤一，用标准面源测得探测器对取样滤盒中不同深度处面源的探测效率；步骤二，拟合出取样滤盒正向和反向放置时的探测效率曲线；步骤三，根据所述探测效率曲线，画出分布参数和探测效率随正反向全能峰计数比变化的曲线；步骤四，由测量得到的正反向全能峰计数比，查找所述曲线中对应的点，获得分布参数和探测效率。
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