[发明专利]一种晶体管加工用性能检测装置在审

专利信息
申请号: 201610234807.0 申请日: 2016-04-15
公开(公告)号: CN105797978A 公开(公告)日: 2016-07-27
发明(设计)人: 达令;项钰 申请(专利权)人: 安庆市晶科电子有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/02
代理公司: 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119 代理人: 程笃庆;黄乐瑜
地址: 246500 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种晶体管加工用性能检测装置,振动盘将晶体管排列整齐后送入进料槽的进料通道内,晶体管在进料槽的进料通道内进料,通过第一限位机构和第二限位机构,保证所述进料通道的检测段内晶体管进料稳定,检测机构对检测段内的晶体管进行检测。本发明提出的晶体管加工用性能检测装置,结构设计合理,通过在进料通道一侧设置检测机构,能够连续对晶体管进行精确检测,并且第一限位机构和第二限位机构对晶体管进料速度进行控制,保证晶体管进料稳定,使得每次仅有一个晶体管位于检测工位,从而大大提高检测效率和检测精度。
搜索关键词: 一种 晶体管 工用 性能 检测 装置
【主权项】:
一种晶体管加工用性能检测装置,其特征在于,包括:振动盘(1)、进料槽(2)、第一限位机构(3)、第二限位机构(4)、检测机构、收料槽(5);进料槽(2)上设有进料口和出料口,所述进料口和出料口之间形成倾斜设置的进料通道,所述进料口高于所述出料口,振动盘(1)位于所述进料口处用于向所述进料通道内进料经排列的晶体管,收料槽(5)位于所述出料口处,所述进料通道包括从进料口向出料口方向依次连通的排列段、预备段、检测段,所述排列段顶部设有供晶体管引脚穿过的第一开口,所述预备段顶部设有供晶体管引脚穿过的第二开口,所述检测段顶部设有供晶体管引脚穿过的第三开口,第一开口、第二开口、第三开口沿进料方向延伸且依次连通,第一限位机构(3)位于排列段靠近预备段一端用于对排列段内的晶体管限位,第二限位机构(4)位于所述预备段靠近所述检测段的一端用于对所述预备段内的晶体管限位,检测机构位于所述检测段一侧用于对所述检测段内的晶体管进行检测。
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