[发明专利]一种芯片系统的显示接口测试方法及装置有效
| 申请号： | 201610235826.5 | 申请日： | 2016-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN105891638B | 公开（公告）日： | 2018-07-17 |
| 发明（设计）人： | 刘梅英 | 申请（专利权）人： | 福州瑞芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 王美花 |
| 地址： | 350000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片系统的显示接口测试方法，包括控制器发送预设的输出数据给待测显示接口输出测试信号；将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；采集输出的一组数据，将采集的数据与预设的输出数据进行比对，得出测试结果。本发明优点如下：可以通过小规模的可编程逻辑器件(或通过搭建组合逻辑电路)做数据的合并，并辅助测试，不仅可以省去数据分时采集的时间，提高显示接口的测试速率，且可以降低芯片显示接口的测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 显示接口 输出数据 芯片系统 组数据 输出 预设 并行 测试方法及装置 可编程逻辑器件 采集 组合逻辑电路 测试 测试成本 测试信号 分时采集 辅助测试 输出测试 控制器 合并 比对 发送 芯片 转换 | ||
【主权项】：
1.一种芯片系统的显示接口测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1、控制器发送预设的输出数据给待测显示接口输出测试信号；步骤2、将输出的测试信号转换成24bit并行的RGB数据信号；步骤3、将24bit并行的RGB数据信号合并成一组数据输出；步骤4、采集输出的一组数据，将采集的数据与预设的输出数据进行比对，得出测试结果；所述步骤3包括：步骤31、将24bit并行的RGB数据信号平分成三组8bit的数据或两组12bit的数据；步骤32、将平分的三组8bit的数据进行两两比对或两组12bit的数据进行比对，若三组8bit的数据或两组12bit的数据相同，则任意选择一组8bit的数据或12bit的数据；若不相同，则选择一组预设的错误数据；步骤33、将选择的一组8bit的数据或12bit的数据或者一组预设的错误数据输出。
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