[发明专利]晶片的分割方法在审
申请号: | 201610236914.7 | 申请日: | 2016-04-15 |
公开(公告)号: | CN106057738A | 公开(公告)日: | 2016-10-26 |
发明(设计)人: | 大浦幸伸;山下阳平;熊泽哲 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;金玲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 晶片的分割方法。将晶片有效地分割成各个芯片。该分割方法,该方法包括:保护膜形成工序,其在晶片(W)的正面(Wa)形成水溶性保护膜(6a);掩模形成工序,其沿着切割道(S)去除水溶性保护膜(6a)而形成蚀刻掩模;等离子蚀刻工序,其隔着由水溶性保护膜(6a)构成的掩模对切割道(S)部分进行等离子蚀刻;保护膜去除工序,其向水溶性保护膜(6a)供给清洗水而去除保护膜。在进行等离子蚀刻之后去除保护膜时,仅从水供给部(31)向水溶性保护膜(6a)供给清洗水,能够从晶片(W)的正面(Wa)容易地去除水溶性保护膜(6a)。因此,无需例如抗蚀剂膜形成装置、抛光装置等的各种设备,能够抑制成本,将晶片(W)有效地分割成各个芯片。 | ||
搜索关键词: | 晶片 分割 方法 | ||
【主权项】:
一种晶片的分割方法,沿着多个切割道分割晶片,该晶片在正面形成有上述多个切割道,并在由上述多个切割道划分出的各区域形成有器件,该分割方法包括:保护膜形成工序,在晶片的正面形成水溶性保护膜;掩模形成工序,沿着上述切割道去除上述水溶性保护膜,形成蚀刻掩模;等离子蚀刻工序,隔着上述蚀刻掩模对上述切割道的部分进行等离子蚀刻;保护膜去除工序,向上述水溶性保护膜供给清洗水而去除上述水溶性保护膜;带粘贴工序,在上述保护膜去除工序之后,在上述晶片的正面侧粘贴保护带;及磨削工序,对上述晶片的背面进行磨削。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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