[发明专利]晶片的分割方法在审

专利信息
申请号: 201610236914.7 申请日: 2016-04-15
公开(公告)号: CN106057738A 公开(公告)日: 2016-10-26
发明(设计)人: 大浦幸伸;山下阳平;熊泽哲 申请(专利权)人: 株式会社迪思科
主分类号: H01L21/78 分类号: H01L21/78
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;金玲
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 晶片的分割方法。将晶片有效地分割成各个芯片。该分割方法,该方法包括:保护膜形成工序,其在晶片(W)的正面(Wa)形成水溶性保护膜(6a);掩模形成工序,其沿着切割道(S)去除水溶性保护膜(6a)而形成蚀刻掩模;等离子蚀刻工序,其隔着由水溶性保护膜(6a)构成的掩模对切割道(S)部分进行等离子蚀刻;保护膜去除工序,其向水溶性保护膜(6a)供给清洗水而去除保护膜。在进行等离子蚀刻之后去除保护膜时,仅从水供给部(31)向水溶性保护膜(6a)供给清洗水,能够从晶片(W)的正面(Wa)容易地去除水溶性保护膜(6a)。因此,无需例如抗蚀剂膜形成装置、抛光装置等的各种设备,能够抑制成本,将晶片(W)有效地分割成各个芯片。
搜索关键词: 晶片 分割 方法
【主权项】:
一种晶片的分割方法,沿着多个切割道分割晶片,该晶片在正面形成有上述多个切割道,并在由上述多个切割道划分出的各区域形成有器件,该分割方法包括:保护膜形成工序,在晶片的正面形成水溶性保护膜;掩模形成工序,沿着上述切割道去除上述水溶性保护膜,形成蚀刻掩模;等离子蚀刻工序,隔着上述蚀刻掩模对上述切割道的部分进行等离子蚀刻;保护膜去除工序,向上述水溶性保护膜供给清洗水而去除上述水溶性保护膜;带粘贴工序,在上述保护膜去除工序之后,在上述晶片的正面侧粘贴保护带;及磨削工序,对上述晶片的背面进行磨削。
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