[发明专利]测量物体的几何维度的方法及系统有效
| 申请号： | 201610237667.2 | 申请日： | 2016-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN106052581B | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 铁木尔·科林;西里尔·瓦拉登 | 申请（专利权）人： | 联发科技（新加坡）私人有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京市万慧达律师事务所 11111 | 代理人： | 白华胜;王蕊 |
| 地址： | 新加坡新加坡城启*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量物体的几何维度的方法及系统。其中，该测量物体的几何维度的方法，包括：测量第一成像单元的光学特性；测量第二成像单元的光学特性；测量参考对象的几何维度；排列包括第一被测物体的一或多个被测物体、第二成像单元、反射表面、第一成像单元及该参考对象；在该第一成像单元中形成该第一被测物体的映像与该参考对象的映像的图像；在该第二成像单元中形成该第一被测物体的图像；测量在该第一成像单元中形成的该图像的几何维度；测量在该第二成像单元中形成的该图像的几何维度；计算该第一被测物体的几何维度。本发明提供的测量物体的几何维度的方法可物体维度非接触式测量实现，简化测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 物体 几何 维度 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种测量物体的几何维度的方法，包括：测量第一成像单元的光学特性；测量第二成像单元的光学特性，其中，该光学特性是包含焦距的与长度有关的光学特性；测量参考对象的几何维度，其中，该几何维度是包含高度、长度、宽度和/或厚度的几何尺寸；排列包括第一被测物体的一或多个被测物体、该第二成像单元、反射表面、该第一成像单元及该参考对象，以使该第一被测物体位于该第二成像单元的视野中，且该反射表面中的该第一被测物体的映像和该反射表面中的该参考对象的映像位于该第一成像单元的视野中；在该第一成像单元中形成该第一被测物体的映像的第一图像与该参考对象的映像的第三图像；在该第二成像单元中形成该第一被测物体的第二图像；测量在该第一成像单元中形成的该第一图像与该第三图像的几何维度；测量在该第二成像单元中形成的该第二图像的几何维度；以及根据该第一成像单元与该第二成像单元的测量结果，计算该第一被测物体的几何维度。
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