[发明专利]一种用于SH导波无损检测技术中噪声处理方法

摘要

本发明公开了一种用于SH导波无损检测技术中噪声处理方法，所述用于处理SH导波重构缺陷中噪声的方法利用小波变换在波数域中进行降噪，并重构出精确的缺陷形状，包括：对时域反射信号添加高斯白噪声；分别对含噪信号在时域和波数域进行小波去噪；根据时域去噪和波数域去噪的结果，分别重构出缺陷形状。本发明有效地解决了SH导波重构缺陷中噪声的影响，能有效提高SH导波重构缺陷形状的精度，通过对比时域小波去噪和频域小波去噪的结果，说明频域小波去噪的优势，对含‑5dB的高斯白噪声信号依然有很好的去噪效果，为工程上的缺陷评估提供了合理参考。

主权项

1.一种用于SH导波无损检测技术中噪声处理方法，其特征在于，该用于SH导波无损检测技术中噪声处理方法包括以下步骤：对时域反射信号添加高斯白噪声：首先生成三种不同频率段高斯白噪声，然后将不同噪声加入到原时域信号中得到含噪信号；对含噪信号波数域进行小波去噪：首先对含噪信号进行变换得到频域含噪信号；接着利用波数和频率的关系得到波数域含噪信号；再采用小波对信号进行软阈值分解去噪，得到去噪后的信号；最后对波数域信号采用小波分析得到波数、波长和幅值三者图像；根据波数域去噪的结果重构出缺陷形状：首先求解出满足相应边界条件的格林函数，再结合波恩近似和远场假设建立起重构积分方程，将去噪信号代入到重构积分方程中，采用离散傅里叶变换计算积分，最后得到重构缺陷形状。