[发明专利]电源芯片的测试装置及方法

摘要

本公开是关于一种电源芯片的测试装置及方法。装置包括：控制模块和至少一个开关模块，每个开关模块包括一个切换开关；其中，对于每个切换开关，包括第一端口、第二端口和第三端口，其中，第一端口在控制模块产生的控制信号的作用下，选择与第二端口接通或与第三端口接通，第一端口所在的支路与被测试电源芯片的电源输出端连接，第二端口所在的支路和第三端口所在的支路分别连接不同的负载；控制模块，用于向每个切换开关输出控制信号，控制每个切换开关对应的第一端口与第二端口接通或与第三端口接通，采集被测试电源芯片的电源输出端与不同负载连接时输出的电压值，通过电压值确定负载性能。本公开技术方案可以全自动测试电源芯片的负载性能。

主权项

一种电源芯片的测试装置，其特征在于，所述装置包括：控制模块和至少一个开关模块，每个开关模块包括一个切换开关；其中，对于每个切换开关，包括第一端口、第二端口和第三端口，其中，所述第一端口在所述控制模块产生的控制信号的作用下，选择与所述第二端口接通或与所述第三端口接通，所述第一端口所在的支路与被测试电源芯片的电源输出端连接，所述第二端口所在的支路和所述第三端口所在的支路分别连接不同的负载；或者，所述第一端口所在的支路中连接负载，所述第二端口和所述第三端口所在的支路分别连接被测试电源芯片的不同电源输出端；所述控制模块，用于向每个切换开关输出控制信号，控制所述每个切换开关对应的所述第一端口与所述第二端口接通或与所述第三端口接通，采集所述被测试电源芯片的电源输出端与不同负载连接时输出的电压值，或者，采集不同电源输出端在接同一个负载时输出的电压值，通过所述电压值确定所述被测试电源芯片的负载性能。