[发明专利]一种基于腔长改变的光腔衰荡气体消光系数测量方法有效

专利信息
申请号: 201610242665.2 申请日: 2016-04-19
公开(公告)号: CN105651703B 公开(公告)日: 2018-08-14
发明(设计)人: 李斌成;崔浩;王静;高椿明;王亚非 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/39
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;顾炜
地址: 610054 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于腔长改变的光腔衰荡气体消光系数测量方法,它包括以下步骤:S1、入射激光束从平面高反镜透射后垂直入射到第一块平凹高反镜上,然后被平面高反镜再次反射,反射光垂直入射到第二块平凹高反镜上并被原路反射回平面反射镜,形成光腔衰荡;或者,入射激光束从第一块平凹高反镜透射后垂直入射到第二块平凹高反镜上,并被原路反射回第一块平凹高反镜,形成光腔衰荡;S2、从光学谐振腔透射的激光由聚焦透镜聚焦到光电探测器上,光电探测器探测光学谐振腔的衰荡信号;S3、通过控制一维电控位移台改变第二块平凹高反镜位置改变光学谐振腔腔长,重复步骤S2,测量两个或两个以上不同光学谐振腔腔长L下光学谐振腔的总损耗。
搜索关键词: 一种 基于 改变 光腔衰荡 气体 系数 测量方法
【主权项】:
1.一种基于腔长改变的光腔衰荡气体消光系数测量方法,该方法采用折叠型或直型光学谐振腔测量装置对光腔衰荡气体消光系数进行测量,该测量装置由激光光源(1)、光学谐振腔、聚焦透镜(4)、光电探测器(5)、数据采集卡(6)、计算机(7)、函数发生器(8)以及一维电控位移台(9)组成,折叠型光学谐振腔由凹面曲率半径为r的第一块平凹高反镜(2)、第二块平凹高反镜(3)和平面高反镜(10)组成,或者,直型光学谐振腔由凹面曲率半径为r的第一块平凹高反镜(2)和第二块平凹高反镜(3)组成,所述的激光光源(1)与函数发生器(8)之间顺次连接有平面高反镜(10)、第一块平凹高反镜(2)、聚焦透镜(4)、光电探测器(5)、数据采集卡(6)和计算机(7),激光光源(1)与计算机(7)相连接,所述的平面高反镜(10)倾斜于光轴设置,第一块平凹高反镜(2)垂直于光轴设置,第二块平凹高反镜(3)安装在一维电控位移台(9)上,其特征在于:该光腔衰荡气体消光系数测量方法包括以下步骤:步骤S1、将脉冲激光或光强周期调制的连续激光入射到放置于待测气体环境的光学谐振腔上,入射激光束从平面高反镜(10)透射后垂直入射到第一块平凹高反镜(2)上,激光束被第一块平凹高反镜(2)反射后按原路返回至平面高反镜(10)上,然后被平面高反镜(10)再次反射,反射光垂直入射到第二块平凹高反镜(3)上并按原路反射回平面高反镜(10)上,形成光腔衰荡;或者,入射激光束从第一块平凹高反镜(2)透射后垂直入射到第二块平凹高反镜(3)上,并按原路反射回第一块平凹高反镜(2)上,形成光腔衰荡;步骤S2、从光学谐振腔透射的激光由聚焦透镜(4)聚焦到光电探测器(5)上,光电探测器(5)探测光学谐振腔的衰荡信号,当采用脉冲激光时,光电探测器(5)直接记录光学谐振腔的光腔衰荡信号,光腔衰荡信号再经数据采集卡(6)传递到计算机(7)上并存储;当采用光强周期调制的连续激光时,且光学谐振腔的衰荡信号幅值超过设定阈值时,触发关断入射激光束,记录光学谐振腔的衰荡信号,或在调制信号的下降沿记录光学谐振腔的衰荡信号,由衰荡信号得到衰荡时间τ,进而得到光学谐振腔的总损耗αtotal,总损耗αtotal根据公式计算得到,其中R为高反腔镜的平均反射率,c为光速,L为光学谐振腔腔长;步骤S3、通过控制一维电控位移台(9)改变第二块平凹高反镜(3)位置改变光学谐振腔腔长,重复步骤S2,测量两个或两个以上不同光学谐振腔腔长L下光学谐振腔的总损耗,通过两个光学谐振腔腔长L下的损耗值差值或两个以上光学谐振腔腔长L下损耗值差值与光学谐振腔腔长L之间关系的线性拟合的斜率,即可得到待测气体消光系数为其中αtotalL1和αtotalL2分别为光学谐振腔腔长为L1和L2时的总损耗,ΔL为光学谐振腔腔长L1和L2的差值。
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