[发明专利]光谱标准样品的制备方法及其应用在审

专利信息
申请号: 201610244987.0 申请日: 2016-04-19
公开(公告)号: CN105928754A 公开(公告)日: 2016-09-07
发明(设计)人: 成勇;张敏;袁金红;魏芳;何其平 申请(专利权)人: 攀钢集团研究院有限公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N21/25;G01N21/27;G01N21/62;G01N23/22;G01N23/223
代理公司: 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 代理人: 柯海军;武森涛
地址: 611731 四川省成都市高*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于分析化学技术领域,具体涉及一种研制或生产光谱标准样品的方法及其在光谱分析仪器上的应用。本发明方法包括以下步骤:a、物料采集:在大型成品型材上切割一块毛胚物料,去皮;b、冷锻成型:将a步骤去皮后的毛坯物料进行冷锻加工,得到符合光谱测试要求的试样;c、后期加工:将b步骤得到的式样进行表面去皮、抛光、切割,得到满足光谱测试标准样品。本发明方法具有操作简单易掌握、制备流程短,产品均匀性好、合格品率高,成本低和可大批量快速生产等特点,解决了传统方法在制备光谱标样过程中出现偏析不均匀的问题,并且克服了原有方法所存在的缺点。
搜索关键词: 光谱 标准 样品 制备 方法 及其 应用
【主权项】:
光谱标准样品的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:a、物料采集:在大型成品型材上切割一块毛胚物料,去皮;b、冷锻成型:将a步骤去皮后的毛坯物料进行冷锻加工,得到基本符合光谱测试要求的试样;c、后期加工:将b步骤得到的式样进行表面去皮、抛光、切割,得到满足光谱测试标准样品。
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