[发明专利]一种显示器液晶填充量测定的方法及装置有效
| 申请号： | 201610245043.5 | 申请日： | 2016-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN105676548B | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 耿淼;高章飞 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1341 | 分类号： | G02F1/1341;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种显示器液晶填充量测定的方法及装置，涉及显示技术领域，可以精确获得显示器的液晶填充量范围，避免液晶量过少出现的bubble现象及液晶量过多出现的重力Mura现象。该方法包括：控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量；对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线；依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围。用于测定显示器液晶填充量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示器 液晶 填充 测定 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种显示器液晶填充量测定的方法，其特征在于，包括：控制多个第一待测液晶显示面板的液晶填充量；对所述多个第一待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，拟合出液晶层厚度与液晶填充量的低温关系曲线和高温关系曲线；依据所述低温关系曲线的下限拐点和所述高温关系曲线的上限拐点，得到所述显示器的液晶填充量范围；对待测液晶显示面板的液晶层厚度进行检测，包括：对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测；对待测液晶显示面板的中间位置处的液晶层厚度进行检测，包括：针对每个待测液晶显示面板，将一束光以相对液晶光轴的预定角度θ射向待测液晶显示面板的中间位置，得到从待测液晶显示面板的液晶层出射的O光和E光之间的距离d；根据所述预定角度θ及所述距离d，利用公式：![]()
计算得到所述液晶层的厚度T；其中，no为所述O光在液晶层中的折射率；ne为所述E光在液晶层中的折射率。
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