[发明专利]结合外控点的InSAR高精度高分辨率DEM获取方法

摘要

本发明公开了一种结合外控点的InSAR高精度高分辨率DEM获取方法，充分融合了InSAR监测手段分辨率高、相对精度高、覆盖范围大和地面控制点绝对精度高的特点，既解决InSAR获取DEM绝对精度不高，又克服了传统DEM获取方法例如星载和机载光学及激光测高手段获取高分辨测图效费比低和受云层影响，地面测图费时费力且无法得到整个野外山区高分辨地貌等缺点。整个流程结构清晰，具有实现简单、费用低、监测精度高、监测范围大、自动化程度高等优点。

主权项

1.一种结合外控点的InSAR高精度高分辨率DEM获取方法，其特征在于，包括：步骤1，通过双基InSAR差分干涉处理单轨影像对，获取单轨DEM；步骤2，采取不同轨道的影像对分别获取DEM，并进行逐点融合；步骤3，将经融合的DEM与地面控制点进行配准，具体包括：步骤3.1，将外部控制点的空间直角坐标转为大地经纬度坐标；步骤3.2，采用双线性插值提取外部控制点所在DEM高程值；步骤3.3，将经融合的DEM与数个外部控制点进行统计配准，所述配准模型包括其中，β为控制点位置的局部坡向，α为控制点位置的局部坡度，为所有控制点位置坡度的平均值，a为DEM平面偏移矢量的模，b为DEM偏移矢量的方向角，ΔZ为DEM垂直偏移，Δh为DEM任一点点的高程值与控制点高程值的差。步骤4，校正DEM与坡度、平面位置和坡向相关的系统误差。