[发明专利]一种多芯片系统的相位测量方法及装置有效
| 申请号： | 201610246985.5 | 申请日： | 2016-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN105954589B | 公开（公告）日： | 2019-03-22 |
| 发明（设计）人： | 门长有 | 申请（专利权）人： | 杭州万高科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R25/00 | 分类号： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 310053 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种多芯片系统的相位测量方法及装置，其中，该方法包括：以广播模式发起相位测量命令；读取每个计量芯片对应的计时值，计时值为计量芯片由接收到相位测量命令至计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；确定任两个计量芯片分别对应的计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。由此，通过广播模式发起相位测量命令，并读取每个计量芯片在接收到相位测量命令至对应交流信号发生过零之间的时间段(即计时值)，进而利用不同计量芯片对应的计时值计算得到不同计量芯片对应的交流信号之间的相位差，无需设置中断管脚、中断响应管脚及对应隔离电路，大大降低了硬件成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 系统 相位 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种多芯片系统的相位测量方法，其特征在于，包括：以广播模式发起相位测量命令；读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差；所述方法还包括：读取每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所述第一采样值及所述第二采样值分别为所述计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值；所述确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差，包括：确定任两个所述计量芯片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。
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