[发明专利]一种叶片介电常数测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201610247800.2 申请日: 2016-04-20
公开(公告)号: CN105954595B 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 张阳;柳钦火;肖青 申请(专利权)人: 中国科学院遥感与数字地球研究所
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 代理人: 张铁兰
地址: 100000 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种叶片介电常数测量装置及测量方法,包括支架,所述的支架上设有夹具,高温探头通过螺母固定在夹具上,高温探头上端的转接头通过同轴线与矢量网络分析仪的Port1端口连接,所述的支架一侧设有升降平台,升降平台上设有真空包装机,真空包装机连接有真空密封袋,测量方法包括样品制备、系统安装、仪器定标、样品放置与抽真空操作和介电常数测量,本发明的有益效果为:可以确保样品与探头良好紧密接触,测量准确度高。
搜索关键词: 一种 叶片 介电常数 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种叶片介电常数测量装置,其特征在于:包括支架(1),所述的支架(1)上设有夹具(2),高温探头(3)通过螺母(4)固定在夹具(2)上,高温探头(3)上端的转接头(5)通过同轴线(6)与矢量网络分析仪(7)的Port1端口(8)连接,所述的支架(1)上设有升降平台(9),升降平台(9)上设有真空包装机(10),真空包装机(10)连接有真空密封袋(11)。
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