[发明专利]一种叶片介电常数测量装置及测量方法有效
申请号: | 201610247800.2 | 申请日: | 2016-04-20 |
公开(公告)号: | CN105954595B | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 张阳;柳钦火;肖青 | 申请(专利权)人: | 中国科学院遥感与数字地球研究所 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 | 代理人: | 张铁兰 |
地址: | 100000 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种叶片介电常数测量装置及测量方法,包括支架,所述的支架上设有夹具,高温探头通过螺母固定在夹具上,高温探头上端的转接头通过同轴线与矢量网络分析仪的Port1端口连接,所述的支架一侧设有升降平台,升降平台上设有真空包装机,真空包装机连接有真空密封袋,测量方法包括样品制备、系统安装、仪器定标、样品放置与抽真空操作和介电常数测量,本发明的有益效果为:可以确保样品与探头良好紧密接触,测量准确度高。 | ||
搜索关键词: | 一种 叶片 介电常数 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
一种叶片介电常数测量装置,其特征在于:包括支架(1),所述的支架(1)上设有夹具(2),高温探头(3)通过螺母(4)固定在夹具(2)上,高温探头(3)上端的转接头(5)通过同轴线(6)与矢量网络分析仪(7)的Port1端口(8)连接,所述的支架(1)上设有升降平台(9),升降平台(9)上设有真空包装机(10),真空包装机(10)连接有真空密封袋(11)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院遥感与数字地球研究所,未经中国科学院遥感与数字地球研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610247800.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种多功能小型音响
- 下一篇:一种用于逐句复读的视频播放方法及工具