[发明专利]基于两端器件的脉冲参数测试系统在审
| 申请号： | 201610248982.5 | 申请日： | 2016-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN105957558A | 公开（公告）日： | 2016-09-21 |
| 发明（设计）人： | 刘明;罗庆;许晓欣;吕杭炳;龙士兵;刘琦 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 张瑾 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于两端器件的脉冲参数测试系统。所述系统包括所述系统包括脉冲源、具有第一通道和第二通道的两通道示波器、探针台以及位于所述探针台上的待测的两端器件和晶体管，其中，所述脉冲源与所述待测的两端器件、所述晶体管组成串联支路，所述第一通道的输入端连接所述待测的两端器件的输入端，所述第一通道的输出端接地，所述第二通道的输入端连接所述待测的两端器件的输出端，所述第二通道的输出端接地。本发明能够对测试系统实现更好的限流作用，并降低了测试系统中的寄生电容，减小了充放电对测试准确性的干扰，以得到更准确的测试参数。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 两端 器件 脉冲 参数 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种基于两端器件的脉冲参数测试系统，其特征在于，所述系统包括脉冲源、具有第一通道和第二通道的两通道示波器、探针台以及位于所述探针台上的待测的两端器件和晶体管，其中，所述脉冲源与所述待测的两端器件、所述晶体管组成串联支路，所述第一通道的输入端连接所述待测的两端器件的输入端，所述第一通道的输出端接地，所述第二通道的输入端连接所述待测的两端器件的输出端，所述第二通道的输出端接地。
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