[发明专利]一种低阻值精密电阻的测试装置及方法在审
| 申请号： | 201610251101.5 | 申请日： | 2016-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN105785131A | 公开（公告）日： | 2016-07-20 |
| 发明（设计）人： | 杨光明 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 杜鹃花 |
| 地址： | 250100 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种低阻值精密电阻的测试装置及方法，属于电子元器件技术领域，本发明要解决的技术问题为如何能够在没有专用精密电阻测试仪的前提下,可准确量出测低阻值精密电阻的准确阻值，技术方案为：(1)、一种低阻值精密电阻的测试装置，包括直流电源供应器、直流负载仪、待测低阻值精密电阻和万用表，直流电源供应器、直流负载仪和待测低阻值精密电阻依次串联组成串联回路，万用表与串联后的直流负载仪与待测低阻值精密电阻并联。(2)、一种低阻值精密电阻的测试方法，步骤如下：(1)、预设直流负载仪的电阻值R固以及直流电源供应器的电压值V；(2)、接通电路，直流负载仪测量并显示出通过待测低阻值精密电阻的电流值I1。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阻值 精密 电阻 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种低阻值精密电阻的测试装置，其特征在于：该装置包括直流电源供应器、直流负载仪、待测低阻值精密电阻和万用表，直流电源供应器、直流负载仪和待测低阻值精密电阻依次串联组成串联回路，万用表与串联后的直流负载仪与待测低阻值精密电阻并联。
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