[发明专利]一种薄片砂轮平面度检测方法

摘要

本发明公开了一种薄片砂轮平面度检测装置及方法，包括机架、载物圆台、XY轴滑台、XY轴滑台驱动机构、激光位移传感器、数据传输系统和工业计算机，载物圆台水平设置在机架上且与机架的上表面转动连接，XY轴滑台水平设置在机架平台上，激光位移传感器设置在XY轴滑台的移动件上，激光位移传感器的输出端连接数据传输系统的输入端，数据传输系统与工业计算机通信连接；本发明利用激光位移传感器的高精度测量能力，结合高效的数据处理算法，实现了薄片砂轮平面度的快速、自动、精准检测，操作方便快捷，有效降低了人为误差和仪器误差对检测结果的影响，检测成本较低，大大提升了薄片砂轮平面度检测的效率和精确度。

主权项

1.一种薄片砂轮平面度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：A：将待检测薄片砂轮平放在载物圆台中央，并用紧固装置将薄片砂轮固定在载物圆台上，其中，所述的紧固装置设置载物圆台上用于固定薄片砂轮；B：利用工业计算机的程序对X向伺服电机、Y向伺服电机和激光位移传感器的参数进行配置；利用工业计算机控制X向伺服电机和Y向伺服电机驱动XY轴滑台带动激光位移传感器在砂轮上表面进行采样；其中，激光位移传感器设置在XY轴滑台的移动件上，XY轴滑台设置在载物圆台的上方，XY轴滑台由X向伺服电机和Y向伺服电机驱动作二维运动， X向伺服电机和Y向伺服电机分别设置在X轴滑台和Y轴滑台的两端，X向伺服电机和Y向伺服电机的输入端均与数据传输系统的输出端连接，激光位移传感器的输出端连接数据传输系统的输入端，数据传输系统与工业计算机通信连接；C：激光位移传感器将采样点采集的原始数据通过数据传输系统发送至工业计算机；D：工业计算机对激光位移传感器采样点采集的原始数据进行滤波去噪处理后得到处理数据；E：将处理数据以采样次序的序号为横坐标、以处理数据的值的大小为纵坐标排列在二维直角坐标系中，然后对二维直角坐标系中的处理数据按一定间隔取一最大值作为特征点，再利用最小二乘法对特征点数据进行曲线拟合，获得可表征砂轮表面宏观轮廓的二维拟合曲线；F：用激光位移传感器采样路径上的采样点坐标代替步骤E得到的二维拟合曲线的横坐标，将二维拟合曲线转换为三维空间曲线；G：选择砂轮的一条直径线并作与之垂直直径线的平行平面，同时保证该平面与选择的直径线平行，将该平面作为评定砂轮平面度的基准平面；利用三维直角坐标转换的方法，使三维直角坐标系的一条坐标轴垂直于基准平面，获得新的三维直角坐标系，并将步骤F得到的三维空间曲线在新的三维直角坐标系中重新计算，获得新的三维空间曲线；H：在步骤G得到的新的三维直角坐标系中，在垂直于基准平面的坐标轴上，计算步骤G得到的新的三维空间曲线的分布范围，即步骤G得到的新的三维空间曲线上的所有点，在垂直于基准平面的坐标轴上坐标的极差值；I：将步骤G选择的直径线绕砂轮圆心旋转一定角度，重复步骤G和步骤H，直至所有选择的直径线均分整个砂轮，获得在不同的基准平面条件下，经过重新计算后获得的三维空间曲线在垂直基准平面方向坐标轴上的极差值；J：计算步骤I中所有极差值的最小值，作为被检测砂轮的平面度，并将该平面度与预设阈值比较，以判定被检砂轮平面度是否合格。