[发明专利]光学分析器在审
申请号: | 201610255517.4 | 申请日: | 2016-04-22 |
公开(公告)号: | CN106066308A | 公开(公告)日: | 2016-11-02 |
发明(设计)人: | 长井悠佑;小川佳祐;渡边真人;神宫句实子;藤原理悟;山崎智之 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01N21/64 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 徐乐乐 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 公开一种光学分析器。包括LED作为光源的光投射单元(1)发出的光投射进样品池(2),光电检测器(3)置于产生的穿过光可以被检测的位置。LED被驱动闪烁,数据提取部(71)提取LED打开期间获得的数据作为反映通过样品溶液的光的吸收的数据(吸光度数据)。此外在样品溶液包含荧光成分的情形中,荧光通过作为激发光的投射光发出。即使激发光停止后,荧光发射会持续短暂的时间,数据提取部(71)提取LED关闭后紧接获得的数据作为反映荧光的数据(荧光数据)。吸光度计算部(72)根据吸光度数据计算吸光度,荧光计算部(73)根据荧光数据计算荧光强度。因此可以对一个样品同时进行吸光度和荧光测量,而使用一个光电检测器,因此简化了光学系统的配置。 | ||
搜索关键词: | 光学 分析器 | ||
【主权项】:
一种光学分析器,其特征在于,包含:a)光投射单元,所述光投射单元用于将光投射至目标样品内或目标样品上,所述光投射单元包括作为光源的发光半导体装置;b)光检测单元,所述光检测单元放置在已经穿过所述样品的光能够被检测到的位置处,被检测到的光是从所述光投射单元投射至所述样品内或所述样品上的所述光;c)光源驱动单元,所述光源驱动单元用于驱动所述光源以闪烁;和d)信号处理单元,所述信号处理单元用于处理由所述光检测单元在所述光源驱动单元驱动所述光源打开的至少部分期间内获得的,作为其中反映了通过所述样品的吸收的信号的检测信号,以及用于处理由所述光检测单元在所述光源驱动单元驱动所述光源关闭的至少部分期间内获得的,作为其中反映了来自所述样品的荧光的信号的检测信号。
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